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中科院半导体所

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晶圆制造中的退火工艺详解

退火工艺是晶圆制造中的关键步骤,通过控制加热和冷却过程,退火能够缓解应力、修复晶格缺陷、激活掺杂原子....
的头像 中科院半导体所 发表于 08-01 09:35 ?226次阅读
晶圆制造中的退火工艺详解

MOSFET的噪声模型解析

在无线通信中,接收器接收到的信号非常小,以至于系统中只能容忍有限的噪声。因此,对于电路设计人员来说,....
的头像 中科院半导体所 发表于 08-01 09:30 ?1016次阅读
MOSFET的噪声模型解析

集成电路传统封装技术的材料与工艺

集成电路传统封装技术主要依据材料与管脚形态划分:材料上采用金属、塑料或陶瓷管壳实现基础封装;管脚结构....
的头像 中科院半导体所 发表于 08-01 09:27 ?978次阅读
集成电路传统封装技术的材料与工艺

芯片制造中的键合技术详解

键合技术是通过温度、压力等外部条件调控材料表面分子间作用力或化学键,实现不同材料(如硅-硅、硅-玻璃....
的头像 中科院半导体所 发表于 08-01 09:25 ?135次阅读
芯片制造中的键合技术详解

TSV制造技术里的关键界面材料与工艺

在TSV制造技术中,既包含TSV制造技术中通孔刻蚀与绝缘层的相关内容。
的头像 中科院半导体所 发表于 08-01 09:24 ?224次阅读
TSV制造技术里的关键界面材料与工艺

传统封装与晶圆级封装的区别

在芯片制造的最后环节,裸片(Die)需要穿上“防护铠甲”——既要抵抗物理损伤和化学腐蚀,又要连接外部....
的头像 中科院半导体所 发表于 08-01 09:22 ?207次阅读
传统封装与晶圆级封装的区别

PCB中的Gerber文件是什么

Gerber 文件是用于电子设计自动化(EDA)中,尤其是在印刷电路板(PCB)设计和制造过程中,传....
的头像 中科院半导体所 发表于 08-01 09:20 ?264次阅读

芯片制造中的对准技术详解

三维集成电路制造中,对准技术是确保多层芯片键合精度、实现高密度TSV与金属凸点正确互联的核心技术,直....
的头像 中科院半导体所 发表于 08-01 09:16 ?920次阅读
芯片制造中的对准技术详解

TSV制造技术里的通孔刻蚀与绝缘层

相较于传统CMOS工艺,TSV需应对高深宽比结构带来的技术挑战,从激光或深层离子反应刻蚀形成盲孔开始....
的头像 中科院半导体所 发表于 08-01 09:13 ?229次阅读

半导体封装技术的演变过程

想象一下,你要为比沙粒还小的芯片建造“房屋”——既要保护其脆弱电路,又要连接外部世界,还要解决散热、....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-31 10:14 ?1383次阅读
半导体封装技术的演变过程

基于TSV的减薄技术解析

在半导体三维集成(3D IC)技术中,硅通孔(TSV)是实现芯片垂直堆叠的核心,但受深宽比限制,传统....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-29 16:48 ?468次阅读
基于TSV的减薄技术解析

一文详解绝缘体上硅技术

绝缘体上硅(SOI)技术作为硅基集成电路领域的重要分支,其核心特征在于通过埋氧层(BOX)实现有源层....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-28 15:27 ?145次阅读
一文详解绝缘体上硅技术

锁相放大器中混频器的工作原理

锁相放大器是一种用于提取微弱信号的高精度电子仪器,能够在强噪声背景下检测出微伏(μV)甚至纳伏(nV....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-26 09:25 ?885次阅读
锁相放大器中混频器的工作原理

集成电路封装类型介绍

在智能终端轻薄化浪潮中,集成电路封装正面临"尺寸缩减"与"管脚扩容"的双重挤压——处理器芯片为处理海....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-26 09:21 ?740次阅读
集成电路封装类型介绍

2.5D及3D集成技术的热性能对比

在多芯片封装趋势下,一个封装内集成的高性能芯片日益增多,热管理难题愈发凸显。空气冷却应对此类系统力不....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-24 16:47 ?1340次阅读
2.5D及3D集成技术的热性能对比

采用扇出晶圆级封装的柔性混合电子

在柔性混合电子(FHE)系统中,柔性实现的难点在于异质材料的协同工作。硅基芯片、金属互连、聚合物基板....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-24 14:41 ?664次阅读
采用扇出晶圆级封装的柔性混合电子

MEMS制造中玻璃的刻蚀方法

在MEMS中,玻璃因具有良好的绝缘性、透光性、化学稳定性及可键合性(如与硅阳极键合),常被用作衬底、....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-18 15:18 ?450次阅读

CMP工艺中的缺陷类型

CMP是半导体制造中关键的平坦化工艺,它通过机械磨削和化学腐蚀相结合的方式,去除材料以实现平坦化。然....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-18 15:14 ?1112次阅读

晶圆制造中的WAT测试介绍

Wafer Acceptance Test (WAT) 是晶圆制造中确保产品质量和可靠性的关键步骤。....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-17 11:43 ?1150次阅读

详解CSP封装的类型与工艺

1997年,富士通公司研发出一种名为芯片上引线(Lead On Chip,LOC)的封装形式,称作L....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-17 11:41 ?1410次阅读
详解CSP封装的类型与工艺

铝丝键合的具体步骤

铝丝键合常借助超声楔焊技术,通过超声能量实现铝丝与焊盘的直接键合。由于键合所用劈刀工具头为楔形,使得....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-16 16:58 ?395次阅读

MEMS中的三种测温方式

在集成MEMS芯片的环境温度测量领域,热阻、热电堆和PN结原理是三种主流技术。热阻是利用热敏电阻,如....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-16 13:58 ?786次阅读
MEMS中的三种测温方式

芯片制造的四大工艺介绍

这一篇文章介绍几种芯片加工工艺,在Fab里常见的加工工艺有四种类型,分别是图形化技术(光刻)?掺杂技....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-16 13:52 ?1535次阅读
芯片制造的四大工艺介绍

一文详解封装缺陷分类

在电子器件封装过程中,会出现多种类型的封装缺陷,主要涵盖引线变形、底座偏移、翘曲、芯片破裂、分层、空....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-16 10:10 ?1075次阅读
一文详解封装缺陷分类

LED发光二极管的原理分析

LED发光二极管,一种半导体元件,当向其中注入电流时会发光。
的头像 中科院半导体所 发表于 07-16 10:08 ?808次阅读
LED发光二极管的原理分析

半导体激光器的三种驱动模式

ACC(Automatic Current Control)是恒电流驱动,通过电流采样反馈为电流驱动....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-11 17:18 ?1128次阅读
半导体激光器的三种驱动模式

晶圆背面二氧化硅边缘腐蚀的原因

在集成电路生产过程中,晶圆背面二氧化硅边缘腐蚀现象是一个常见但复杂的问题。每个环节都有可能成为晶圆背....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-09 09:43 ?226次阅读

浅谈封装材料失效分析

在电子封装领域,各类材料因特性与应用场景不同,失效模式和分析检测方法也各有差异。
的头像 中科院半导体所 发表于 07-09 09:40 ?529次阅读

铜对芯片制造中的重要作用

在指甲盖大小的芯片上,数百亿晶体管需要通过比头发丝细千倍的金属线连接。当制程进入130纳米节点时,传....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-09 09:38 ?249次阅读
铜对芯片制造中的重要作用

半导体分层工艺的简单介绍

在指甲盖大小的硅片上建造包含数百亿晶体管的“纳米城市”,需要极其精密的工程规划。分层制造工艺如同建造....
的头像 中科院半导体所 发表于 07-09 09:35 ?380次阅读
半导体分层工艺的简单介绍