Texas Instruments TPS22997EVM评估模块用于评估TPS22997负载开关。双层PCB TPS22997EVM提供与TPS22997开关的 VIN和VOUT连接。PCB布局路由可处理连续大电流,为正在测试的器件提供低电阻进出通道。TI TPS22997EVM提供测试点连接,在用户定义的测试条件下控制器件,并进行准确的RON测量。
数据手册:*附件:Texas Instruments TPS22997EVM评估模块数据手册.pdf
特性
- V
BIAS电压范围:1.5V至5.5V - V
IN输入电压范围:0.1V至5.5V - 10A最大连续开关工作电流
- 低导通电阻 (R
ON) :4m?(典型值) - 可调压摆率和可调节快速输出放电
- 热关断
PCB布局
TPS22997EVM评估模块技术解析与应用指南
一、产品核心特性
TPS22997EVM是德州仪器(TI)推出的可调上升时间负载开关评估模块,具有以下突出特性:
- ?高性能负载开关?:
- 超低导通电阻:4mΩ(典型值)
- 大电流能力:连续10A输出
- 宽输入电压范围:0.1V至5.5V
- ?灵活配置选项?:
- 可调上升时间控制(通过CT引脚电容调节)
- 可配置快速输出放电(QOD)功能
- 支持硬件使能控制(ON引脚)
- ?全面保护机制?:
- 集成电源良好(PG)状态指示
- 过流保护功能
- 热关断保护
二、关键电气参数
2.1 基本规格
参数 | 规格 | 单位 |
---|---|---|
输入电压范围 | 0.1-5.5 | V |
最大连续电流 | 10 | A |
导通电阻 | 4 | mΩ |
偏置电压范围 | 1.5-5.5 | V |
工作温度 | -40至+125 | °C |
2.2 时序特性
- 上升时间可调范围:1μs至10ms
- 使能响应时间:<10μs
- 电源良好延迟时间:<100μs
三、硬件架构解析
3.1 核心模块组成
- ?功率路径设计?:
- 输入香蕉插座(J1)和测试点(TP1/TP2)
- 输出香蕉插座(J2)和测试点(TP3/TP4)
- 低阻抗PCB走线设计
- ?控制接口?:
- 使能信号测试点(TP6)
- 偏置电压测试点(TP5)
- 电源良好指示测试点(TP7)
- ?配置跳线?:
- VBIAS选择跳线(JP2)
- ON引脚配置跳线(JP1)
- QOD配置跳线(JP3-JP5)
3.2 PCB设计特点
- 双层板设计
- 优化的大电流路径布局
- 测试点密集分布便于测量
- 明确的标识系统
四、典型应用配置
4.1 基本操作步骤
- ?电源连接?:
- 输入电源连接J1端子(0.1V-5.5V)
- 偏置电压连接TP5或配置JP2
- ?功能配置?:
- 通过JP1设置使能信号电平
- 通过JP3-JP5配置QOD功能
- 调节C4电容改变上升时间
- ?负载连接?:
- 输出负载连接J2端子
- 监测VOUT_SNS测试点
4.2 测试配置方案
- ?导通电阻测试?:
- 使用四点测量法
- 监测VIN_SNS和VOUT_SNS压降
- 计算公式:RON = ΔV/Iload
- ?上升时间测试?:
- 函数发生器驱动ON引脚
- 示波器监测VOUT_SNS
- 测量10%-90%上升时间
- ?功能验证?:
- 电源良好信号验证
- QOD功能测试
- 过流保护测试
五、典型应用场景
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