Texas Instruments TPS7H6003EVM-CVAL评估模块可接受高达150V输入，通过驱动EPC2307来测试TPS7H6003-SP的可靠性。TI TPS7H6003EVM-CVAL评估模块默认设置为在PWM模式下运行TPS7H6003-SP。然后，TPS7H6003-SP接收一个开关信号的输入，在内部开发互补信号。该功能可更改为IIM模式，其中两个输出互相独立工作。

数据手册：*附件：Texas Instruments TPS7H6003EVM-CVAL评估模块数据手册.pdf

特性

• 独立输入模式下的可选输入联锁保护
• 分离输出，用于可调节导通和关断时间
• 独立输入模式下的传播延迟：25ns（典型值）
• 1.5A峰值拉电流、3A峰值灌电流
• PVIN输入上的工作电压高达150V
• 支持PWM和IIM模式
• 大焊盘，用于放置自己的电感器和电容器
• 集成死区时间，用于PWM模式

布局

TPS7H60x3/60x5评估模块(EVM)技术解析与应用指南

产品概述

TPS7H60x3EVM-CVAL和TPS7H60x5EVM是德州仪器(TI)推出的评估模块，用于评估TPS7H6003-SP、TPS7H6013-SP、TPS7H6023-SP、TPS7H6005-SEP、TPS7H6015-SEP和TPS7H6025-SEP等半桥GaN FET驱动器的性能。该系列评估模块通过J1/J2上的输入电压轨为半桥FET堆栈的PVIN供电，用户可选择仅运行驱动电路或通过提供的焊盘添加电感和电容构建完整功率级。

核心特性与功能模式

主要特点

• ?双工作模式支持?：默认配置为PWM模式，也可通过简单修改切换至IIM(独立输入)模式
• ?灵活的外围设计?：提供大尺寸焊盘便于用户添加自定义电感和电容
• ?集成死区时间控制?：PWM模式下内置互补信号生成与死区时间设置
• ?宽输入电压范围?：支持0-150V(根据具体器件型号有所不同)

工作模式配置

评估模块支持两种工作模式切换：

?PWM模式?：

• 接受单一开关信号输入(J9引脚1)
• 内部生成互补输出信号
• 通过R8/R9设置死区时间(典型值100-220kΩ)

?IIM模式?：

• 两个输出独立工作(互锁禁用时R5=0Ω，R6不安装)
• 输入信号分别连接J6和J15
• 互锁功能可选配置

硬件设计与接口说明

电源要求

关键接口

• ?功率输入?：J1(正极)、J2(负极)
• ?控制信号?：
  • J9：PWM信号输入(引脚1)和使能信号(引脚4)
  • J6/J15：IIM模式下的独立输入
• ?输出监测?：TP7(HO)、TP8(LO)等测试点

评估板使用指南

典型测试配置

• ?输入电压?：100V(J1)、0V(J2)
• ?控制信号?：0-5V 500kHz/30%占空比(PWM_LI)
• ?工作频率?：优化为500kHz(其他频率需注意GaNFET过热风险)

模式切换步骤

1. 断电状态下修改以下电阻配置：
   • PWM→IIM(互锁禁用)：安装R5=0Ω，移除R6
   • PWM→IIM(互锁启用)：移除R5，安装R6=100-220kΩ
2. 相应调整输入信号连接方式

应用领域与性能表现

目标应用

• 通信载荷系统
• 指令与数据处理单元
• 卫星电力系统
• FPGA核心电压轨的太空卫星点负载供电

实测性能

评估测试显示模块在以下方面表现优异：

• ?栅极驱动电压?：清晰稳定的高低电平转换(如图3-1至3-3所示)
• ?相位节点响应?：快速开关特性(图3-4)
• ?热性能?：建议操作时注意>55℃的高温区域

安全注意事项

1. ?高压警告?：EVMs可能包含完全可接触的活性高压，操作时需：
   • 使用绝缘夹具和导线
   • 禁止徒手测试
   • 配备合格观察员
2. ?热风险?：部分组件工作温度>55℃，禁止触摸通电或刚断电的板卡
3. ?限制使用?：EVMs不得作为生产单元的全部或部分使用

设计资源与支持

配套文档

• 完整原理图(图4-1至4-6)
• PCB布局图(图4-7至4-44)
• 详细物料清单(表4-1和4-2)

参考设计

• TPS7H60x3-SP数据手册
• TPS7H60x5-SP/SEP数据手册

该评估模块为工程师提供了快速验证GaN驱动器性能的平台，特别适合空间应用和高可靠性电力电子系统的开发评估。通过灵活的配置选项和全面的测试接口，可显著缩短相关产品的开发周期。