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TPS376XEVM窗口监控器评估模块技术解析与应用指南

科技观察员 ? 2025-09-06 14:30 ? 次阅读
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Texas Instruments TPS376XEVM窗口监控器评估模块 (EVM) 设计用于评估TPS3762/TPS3762-Q1电压监控器。该系列是汽车级设备,支持欠压和过压监控器以及内置自检功能。TPS376XEVM预装TPS3762D02OVDDFRQ1设备,但是可与任何TPS3762-Q1型号搭配使用。Texas Instruments TPS376XEVM提供与所有输入和输出引脚的连接。测试点可为用户提供额外连接,用于示波器万用表测量。

数据手册:*附件:Texas Instruments TPS376XEVM窗口监控器评估模块数据手册.pdf

特性

  • 支持所有引脚和可调型号
  • 测试点便于输入/输出访问
  • 可定制重置延迟

板布局

1.png

TPS376XEVM窗口监控器评估模块技术解析与应用指南

一、产品概述

Texas Instruments推出的TPS376XEVM是一款专为TPS3762-Q1系列电压监控器设计的评估模块,主要用于功能安全应用中的欠压和过压监控场景。该评估模块通过提供完整的测试接口和测量点,帮助工程师快速验证TPS3762-Q1系列器件的性能特性。

核心特性

  • ?宽电压工作范围?:支持2.7V至65V的输入电压监控
  • ?功能安全合规?:满足汽车电子功能安全应用要求
  • ? 内置自检功能(BIST) ?:可检测内部器件故障
  • ?可配置复位输出?:支持复位锁存功能
  • ?灵活的延时设置?:通过外部电容可调感应和复位延时

二、硬件设计解析

1. 模块布局与接口

TPS376XEVM评估板预装了TPS3762D02OVDDFRQ1器件,提供全面的测试接入点:

  • ?电源输入?:通过TP1接入VDD(2.7-65V)
  • ?感应电压输入?:通过TP9接入VSENSE(0-65V)
  • ?复位输出?:通过TP8监测RESET信号
  • ?自检接口?:TP3(BIST)和TP4(BIST_EN/LATCH_CLR)

2. 关键跳线配置

评估板提供7组关键跳线用于功能配置:

  1. ? J4(CTS) ?:配置感应时间延迟电容连接
    • 默认闭合引脚3-4连接C4
    • 可切换连接C3/C5/C6调整感应延时
  2. ? J5(CTR) ?:配置复位时间延迟电容连接
    • 默认闭合引脚3-4连接C8
    • 可切换连接C7/C9/C10调整复位延时
  3. ? J11(BIST控制) ?:配置自检功能上拉电压
    • 默认闭合引脚3-4连接TP11
    • 可切换连接VDD或悬空

3. 测试点功能说明

评估板提供11个测试点用于性能验证:

  • ?TP1?:主电源VDD监测点
  • ?TP2/TP9?:感应电压监测点
  • ?TP3?:BIST自检输出监测
  • ?TP4?:BIST_EN/LATCH_CLR控制监测
  • ?TP8?:RESET输出监测
  • ?TP10/TP11?:外部上拉电压接入点

三、典型应用场景

1. 汽车电子电源监控

利用TPS376XEVM可快速验证:

  • 蓄电池电压异常检测(欠压/过压)
  • ECU电源监控与故障处理
  • 安全相关系统的电源完整性检查

2. 工业控制系统

适用于:

3. 功能安全系统开发

通过内置自检功能:

  • 验证监控电路自身可靠性
  • 开发故障检测与恢复机制
  • 构建符合ISO 26262的安全架构

四、使用指南与设计建议

1. 基本操作流程

  1. ?硬件连接?:
    • 通过TP1接入2.7-65V测试电源
    • 通过TP9接入待监控电压
    • 连接示波器至相关测试点
  2. ?功能配置?:
    • 通过跳线设置所需延时参数
    • 配置BIST_EN/LATCH_CLR工作模式
    • 设置RESET输出特性(锁存/非锁存)
  3. ?性能验证?:
    • 逐步改变VSENSE电压,观察RESET响应
    • 触发BIST功能,验证自检机制
    • 测试不同温度条件下的监控精度

2. 设计注意事项

  • ?电源噪声抑制?:建议在VDD输入端增加0.1μF去耦电容(评估板已集成C1)
  • ?温度影响?:工作结温范围为-40°C至125°C,高温环境下需考虑降额使用
  • ?布局优化?:监控信号走线应远离高频噪声源
  • ?ESD防护?:操作时需采取防静电措施

五、性能评估结果

根据数据手册提供的测试数据:

  1. ?BIST功能波形?:
    • BIST恢复时间(tBIST_recover):典型值10μs
    • BIST检测时间(tBIST):典型值1ms
  2. ?过压响应特性?:
    • 感应阈值精度:±1.5%(典型值)
    • 响应时间:可配置为1ms-10s(通过CTS电容)
  3. ?复位延时特性?:
    • 复位释放延时:可配置为1ms-10s(通过CTR电容)
    • 复位信号下降时间:<100ns
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