普赛斯仪表 | 创新技术突破,激光器老化测试系统解决方案

大功率激光器在光束质量、工作效率、结构体积、寿命和系统维护等方面具有明显的优势。但与此同时,由于单颗芯片出光功率大，单位面积产生的热量大，如果不做好散热技术，将直接影响半导体激光器输出功率、阈值电流密度、电光转化效率、微分量子效率、偏振度等性能，并导致半导体激光器寿命和可靠性的下降，甚至会损毁芯片，最终影响器件可靠性。

在交付使用之前需要将激光器芯片置于高的温度和电流等极端操作条件下进行寿命和可靠性实验，淘汰早期失效器件并检测出失效因素。目前，大功率激光器芯片在大电流工作连续输出时普遍面临着各种测试难点:

1、LIV测试时光电参数受热的影响比较大;

2、激光器芯片直流、宽脉冲下的测试结果不准;

3、大功率激光器抗浪涌冲击能力差，要求脉冲电流无过冲，浪涌冲击小；

4、电源的波动会影响激光器的寿命，同时会造成光功率不稳定及器件发热不稳定等。

基于率先国产化数字源表(SMU)的技术开发实力，以及多年来产品覆盖国际通信及半导体头部用户的认可和应用研究，武汉普赛斯针对千瓦级大功率半导体激光器芯片需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题，创新开发推出一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力强，并具有防过冲、防反冲、防浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为泵浦激光器的老化测试提供了一个完整的解决方案。实现多单元、高效率、自动监控并记录上传测试数据的一体化测试系统。

灵活可拓展系统集成开发的设计实力

1、抽屉式结构：可以灵活扩展最高至4层结构，每层设计若干路，每路支持1-16只激光器芯片的串联老化；

2、一体化设计：系统包括高温环境控制装置、直流或脉冲驱动电源、收光装置、光纤、光谱仪(选配)、循环水冷系统、定制夹具、温度采集器及上位机等；

3、自动化操作：自动采集半导体激光器驱动电流、电压、光功率、环境温度，实现上位机程序自动测试；

4、智能化数据处理：经过上位机数据处理系统可以直接输出数据采集表，提高半导体激光器老化及测试系统自动化程度，提高工作效率，减少人为干预。

兼容CW及QCW模式脉冲恒流源的创新设计

1、CW 60A & QCW 600A/100V；

2、直流恒流、直流扫描、脉冲直流、脉冲扫描；

3、支持一主多从的方式多台串并联，从机即可实现同步输出；

4、支持线性扫描、对数扫描及自定义扫描；

5、电源规格-系统防浪涌（EN61000-5）

LDBI系列多路大功率激光器老化系统产品应用：

1、大功率LED的LIV测试及产线批量老化

2、大功率激光器的LIV测试及产线批量老化

3、大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块稳定性及可靠性测试