Exensio 应用篇：数据驱动 OSAT 智能化，破解半导体封测效率与品控双难题

在半导体产业生态中，Foundry、IDM、OSAT 及 Fabless 在激烈的市场竞争里，既有共通的挑战，也有各自面临的难题。Exensio 数据分析平台从设计及架构出发，精准契合半导体生态下各方的需求。目前 Exensio 数据分析平台已用于全球数百家企业，助力不同产业环节的企业提升运营效率和企业收益。

本文将继续介绍 Exensio 在 OSAT 中的实际应用及其带来的实际效益。

在半导体产业生态链中，OSAT 企业作为全球无晶圆半导体公司的战略合作伙伴，承担着保障产品质量与优化生产效能的关键使命。为满足行业日益增长的精细化管理需求，Exensio OSAT 产品凭借模块化架构与智能数据处理能力，帮助企业实现生产运营的全面升级。

Exensio OSAT 包含PC（过程控制-FDC）、TO（测试优化）与 AO（芯片及封装溯源）三大模块，构建起覆盖半导体测试和封装全流程的数据管理体系。通过先进的数据采集与整合技术，Exensio OSAT 能够实时汇聚各环节生产数据，并经标准化处理后，在 Exensio 数据分析平台可视化呈现。这一特性不仅为企业管理层提供宏观决策依据，也为工程师团队提供精准的微观分析支撑，显著提升数据驱动决策的效率与准确性。

智能监测护航，稳控测试环节

测试操作的稳定性是衡量 OSAT 企业核心竞争力的重要指标，Exensio OSAT 为此提供了一套完备的监测分析方案。企业可依托该产品实现生产环境的动态监控与新设备的质量验证，通过量具重复性与再现性（Gauge R&R）分析、偏差离散直方图、箱线图等专业工具，对测试设备进行系统性效能评估。

一旦发现数据出现异常波动，如差异图中呈现的峰值信号，系统可迅速定位故障设备，协助工程师及时启动预防性维护（PM），有效降低非计划停机风险，确保产能稳定输出。

图示一

离线实时双驱动，可视化数据赋能

在数据分析方面，Exensio OSAT 支持离线回溯与实时监测两种模式，可灵活适配不同业务场景需求。其高度定制化的实时仪表盘，集成了车间测试设备运行的实时数据、失效料箱地理分布热力图、帕累托失效分析模型以及跨站点良率对比等核心功能模块。助力产品工程师通过直观的可视化界面，能够实时追踪产品质量和良率等指标，高效完成无晶圆客户交付的品控任务。

在工业 4.0 时代，生产透明度和数据可视性对于企业发展愈发关键。Exensio OSAT 能够助力 OSAT 企业向客户清晰展示生产状况与数据信息。随着越来越多无晶圆公司着手在供应链中部署边缘智能技术，采用 Exensio OSAT 的企业在高级边缘分析支持能力上，更能在激烈的技术竞争中抢占先机。

图示二