随着半导体行业的快速发展,芯片制造技术不断向着更高的集成度、更小的尺寸和更高的性能迈进。在这一过程中,封装技术的创新成为了推动芯片性能提升的关键因素之一。TGV(玻璃通孔)技术作为一种新兴的封装技术,凭借其优异的性能,在半导体与封装行业中得到了越来越广泛的应用。
TGV是一种采用玻璃基板的高密度互连方法,相较于传统的PCB,可有效降低信号延迟和功耗,非常适用于高性能封装。许多检测场景还要求对大面积玻璃基板进行高速检测,对检测的精度和效率提出了更高要求。因此,实时清晰成像和高效扫描速度是确保精确检测的关键。
为了满足高日益精密的检测需求,志强视觉联合知名视觉品牌,将工业相机、高速自动对焦(AF)系统与精密调控的光源相结合,确保TGV检测质量的可靠性。
不同层级的TGV孔形状和尺寸可能有所不同,因此进行分层精确对焦至关重要。特别是在使用高倍率镜头时,景深非常浅,稍有偏差就可能导致对焦错误,进而造成测量不准确。综合比较之后,选择光学三角测距自动对焦传感器。

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在TGV检测中,投影式背光通常能有效捕捉高对比度的孔轮廓。但在某些情况下,由于检测设备结构限制,安装背光较为困难,或对于特殊结构的样品,同轴照明能更好地发现缺陷。有时,结合背光与同轴照明的检测方法可在一次拍摄中同时获得不同类型的图像。

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TGV 技术正在从晶圆级封装(wafer-level packaging)向更具成本效益的面板级封装(panel-level packaging)发展,这将进一步降低生产成本,推动其大规模应用。随着半导体行业对高频、高集成度和高可靠性封装需求的不断增长,TGV技术无疑将扮演越来越重要的角色。
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自动对焦技术助力TGV检测 半导体检测精度大突破

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