为什么要做晶振匹配测试?
因为要验证测试晶振是否超出频率偏差,晶振在实际工作中的输出频率偏差太大,可能超出时钟芯片对其的捕捉范围,造成指令错误,引发系统紊乱。因此在样机阶段,上板测试并验证晶振实际输出的频率精度是否合格尤为关键。
实际工作中的输出频率偏差太大的原因:
1、电路中的负载电容,负载电容主要包括电路板上的寄生电容、外接的匹配电容以及晶振引脚的分布电容等。在设计电路时,如果没有准确计算负载电容,或者外接电容的精度不够、老化特性不良,都会导致负载电容失配。例如,晶振的标称负载电容为20pF,而实际电路中的负载电容由于寄生电容的存在达到了25pF,那么晶振的振荡频率就会低于标称频率。
2、环境温度变化,晶振的"心脏"--石英晶片,对温度变化有着极高的敏感性,当温度偏离常温范围较大时,频偏会显著增加。例如,一款普通SPXO在-40℃到+85°℃的温度范围内,频偏可能达到+20ppm其至更高。
如何应对?
1、选择合适的晶振,考虑其频率稳定性、温度特性等关键指标,尽量选择与系统要求匹配的型号。
2、硬件调整:对于某些特定应用,可以通过调整晶振的安装位置、周围元件等,来改善其性能。但这通常需要一定的专业知识和经验,不建议普通用户自行操作。
3、软件补偿:对于一些可以通过软件进行补偿的设备,可以通过编写相应的算法,对晶振的输出频率进行实时监测和调整,以减小频率偏差对系统的影响。
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