Texas Instruments SN74HC165/SN74HC165-Q1 8位并行负载移位寄存器是一种将数据移向串行（ QH ）输出的寄存器。通过八个单独的直接数据(A-H)输入提供对每个级的并行输入访问，这些输入由移位/负载(SH/LD)输入的低电平启用。SN74HC165/SN74HC165-Q1器件还具有时钟抑制（CLK INH）功能和互补串行（ QH ）输出。

数据手册：

*附件：SN74HC165-Q1 数据表.pdf

*附件：SN74HC165-EP 数据表.pdf

时钟靠在SH/LD保持高电平、CLK INH保持低电平时由低至高时钟 (CLK) 输入转换完成。CLK和CLK INH的功能可互换。因为时钟也可以由低CLK和CLK INH低到高转换实现，所以只有在CLK为高电平时，CLK INH才必须切换为高电平。当SH/LD保持高电平时，并行负载被抑制。当SH/LD为低电平时，寄存器并行输入的启用与CLK、CLK INH或串行 (SER) 输入的电平无关。SN74HC165-EP器件采用金键合线，温度范围为-55°C至+105°C，引线表面镀锡。Texas Instruments SN74HC165-Q1器件通过了汽车应用类AEC-Q100认证。

特性

• 宽工作电压范围：2V至6V
• 输出可驱动多达10个LSTTL负载
• 低功耗，最大ICC 为80?A
• 典型tpd =13ns
• 输出驱动（5V时）：±4mA
• 低输入电流：最大1?A
• 互补输出
• 直接覆盖负载（数据）输入
• 门时钟输入
• 并行转串行数据转换

功能框图

SN74HC165-Q1 8位并行负载移位寄存器技术解析

一、产品概述

SN74HC165-Q1是德州仪器(TI)推出的一款符合汽车电子应用标准的8位并行负载移位寄存器，具有以下核心特性：

• ?汽车级认证?：符合AEC-Q100 Grade 1标准(-40°C至+125°C)
• ?宽电压工作?：2V至6V工作电压范围
• ?高抗干扰能力?：ESD保护超过1500V(MIL-STD-883方法3015)
• ?低功耗设计?：最大80μA静态电流
• ?高速性能?：典型传播延迟13ns(5V时)

该器件主要用于汽车电子系统中的数据采集和传输，特别适合需要高可靠性的信号处理应用。

二、关键功能特性

1. 并行-串行转换

• 通过8个独立数据输入(A-H)实现并行加载
• 低电平有效的SH/LD信号控制加载时机
• 时钟上升沿触发数据移位

2. 时钟控制

• 提供CLK和CLK INH两个时钟控制引脚
• 两种时钟触发方式：
  • CLK低→高(CLK INH低)
  • CLK INH低→高(CLK低)

3. 输出配置

• 提供互补输出(QH和QH)
• 可驱动10个LSTTL负载
• 输出驱动能力±4mA(5V时)

三、电气特性详解

1. 绝对最大额定值

2. 推荐工作条件

四、汽车应用设计考量

1. ?电源管理?：
   • 建议使用0.1μF陶瓷电容去耦
   • 电源走线应尽可能短而宽
2. ?信号完整性?：
   • 时钟信号应远离高噪声区域
   • 建议使用50Ω终端匹配长传输线
3. ?热管理?：
   • TSSOP封装热阻108°C/W
   • 高环境温度下需考虑降额使用
4. ?EMC设计?：
   • 敏感信号建议采用屏蔽处理
   • 关键信号线应避免与功率线平行