在电子测量与研发领域,示波器、源表、电子负载等高精度仪器是获取电路参数的核心工具。传统测试模式依赖人工操作仪器采集数据,存在效率低、一致性差等问题。仪器程控软件虽实现了单一设备的自动化数据采集与导出,但在面对多仪器协同测试时,因缺乏跨设备控制能力与数据整合机制,难以满足复杂场景的测试需求。ATECLOUD 自动测试平台通过构建标准化硬件接口与智能化软件平台,实现了多仪器的协同控制与测试流程的全自动化,成为现代电子测试领域的核心技术解决方案。
自动化测试平台ATECLOUD
一、传统测试模式的技术瓶颈与程控软件的局限性
单一仪器控制的孤立性
传统仪器程控软件(如源表控制软件、示波器数据采集工具)基于特定设备的驱动协议开发,仅能实现单台仪器的参数配置与数据读取。例如,使用示波器程控软件可自动捕获波形并生成 CSV 报告,但无法同步控制电子负载进行动态加载,导致电压 - 电流特性测试需人工切换设备状态,引入操作误差与时间损耗。
多设备协同的控制断层
当测试项目涉及多仪器联动(如电源 - 负载 - 万用表的闭环测试),单一程控软件无法建立设备间的逻辑关联。以滤波器性能测试为例,需同步调节直流电源输出电压、电子负载拉载电流,并通过万用表实时采集输入 / 输出电压。传统方式需人工依次操作各设备软件,数据分散存储于不同平台,难以形成完整的测试数据流,且无法实现异常状态的自动响应(如过流保护的联动触发)。
示波器
测试流程的非标准化
程控软件的功能模块固定,缺乏灵活的流程编辑能力。对于包含多步骤、多条件判断的复杂测试(如电源模块的全负载范围扫描),需手动编写脚本或频繁干预,无法满足批量测试与自动化校准的高效需求。
二、ATECLOUD自动测试平台的技术架构与核心优势
平台通过硬件模块化 + 软件平台化的设计,构建了跨仪器的协同控制体系,其技术实现可分为三个核心层面:
硬件层:标准化接口与仪器集成
多总线兼容:支持 GPIB、LAN(VXI-11/LXI)、USB、RS485 等主流仪器接口,通过适配器实现不同品牌设备的即插即用(如 Keysight 示波器与 Chroma 电子负载的混合控制)。
信号调理与切换矩阵:集成高精度开关矩阵与信号调理模块,自动完成通道切换、量程匹配与抗干扰处理,解决多仪器同步触发与信号路由问题。
工装治具定制:针对被测对象(如 PCB 板、模块化设备)设计专用测试夹具,内置传感器与定位机构,实现被测件与测试资源的可靠电气连接。
自动切换装置
软件层:智能化测试流程引擎
跨设备控制平台:基于ATECLOUD智能云测试平台,通过设备驱动库统一管理多仪器指令,支持拖放式流程编辑与条件逻辑配置。
数据融合与闭环处理:建立统一的数据存储格式,实时整合多仪器采集数据(如电源输出电压、负载电流、示波器波形),支持在线分析(如计算效率、纹波噪声)与异常判定。
可扩展模块设计:提供开放式 API 接口,允许用户自定义测试算法与报告模板。
应用层:复杂场景的自动化实现
以滤波器多参数测试为例,测试平台中的执行流程如下:
初始化:软件自动识别并电源、负载、万用表。
流程控制:按预设序列调节电源电压,触发负载加载,同步指令万用表采集滤波器输入 / 输出电压,计算压降并记录波形。
异常处理:若某测点电压波动超过阈值,系统自动暂停测试并发送警报,避免被测件损坏。
数据处理:测试完成后生成包含曲线图、数据表格与合格判定的综合报告,支持历史数据追溯与多批次对比分析。
自动化测试流程
三、ATECLOUD平台的核心价值与应用场景
效率提升与成本优化
通过全流程自动化,单批次测试时间较人工操作缩短 60%-80%,且无需依赖专业人员值守。例如,传统 8 小时人工测试的电源模块老化试验,ATE 系统可在 2 小时内完成并自动生成报告,人力成本从 6-8 人降至 1-2 人。
测试精度与一致性保障
消除人工操作带来的读数误差与流程偏差,通过仪器同步触发与标准化校准流程,确保不同批次测试数据的可重复性,满足国际标准对测量不确定度的要求。
自动化测数据
灵活适配与快速迭代
支持仪器替换以及方案实时修改,通过修改配置文件即可切换被测对象,显著降低多型号产品的测试准备成本,特别适合研发阶段的快速验证与小批量生产测试。
ATECLOUD自动测试平台突破了传统仪器程控的孤立性限制,通过跨设备协同控制、流程自动化与数据深度整合,构建了高效、精准、灵活的电子测试平台。其核心价值不仅在于替代人工操作,更在于建立了标准化的测试架构,为复杂电子系统的研发、生产与维护提供了可靠的技术支撑。
审核编辑 黄宇
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