如何分析EMC测试数据并且改善辐射？-电子发烧友网

在电磁兼容的辐射发射测试中，最常见的就是时钟辐射超标（如下图所示）。可以说70%的辐射超标都是时钟问题引起的，因为时域中周期性的信号对应频域中离散的频谱，所以时钟能量比较集中，这在频谱上的表现就是：时钟频点（时钟基频以及倍频）上能量很高，而非时钟频点几乎没有能量。

那么我们如何分析测试数据并且改善辐射呢？

二测试数据分析

分析辐射数据之前，我们先简单了解一下时钟最基本的一个特点：倍频。如下图所示，常见的梯形波在频域上是有很多间隔规律的单支的，比如一个24MHz的摄像头时钟，那么f0=24MHz，在频域上每隔24MHz就会有一个单支能量很高（24MHz，48MHz，72MHz，96MHz，120MHz……）。

所以想要从测试数据上分析时钟源头，就需要计算出每个相邻时钟单支的频率间隔△f，f0=△f。比如上述测试数据中：

f5-f3=875.2470-750.1083≈125MHz

f3-f2=750.1083-625.0780≈125MHz

f2-f1=625.0780-501.1790≈125MHz

从计算结果中可以知道，1号点、2号点、3号点、5号点是125MHz时钟的倍频（4号点833MHz是实验室中手机的噪声，可以忽略）

三辐射超标的原因

分析出了超标的时钟频率，就可以很轻松的通过频谱仪或者原理图和pcb找到时钟来自哪一个芯片的哪个时钟信号。但是这并不代表我们可以很好解决时钟问题，因为时钟辐射的路径多种多样，又可能包含差模、共模辐射。即使找到了辐射路径，也不一定能降低辐射，因为时钟是我们电子产品需要的有用信号，很多滤波手段会影响信号完整性，从而导致功能异常或者降低稳定性和一致性。这就需要我们在电磁兼容和产品性能中取一个平衡，这让很多工程师越来越憔悴。

不过别慌，只要我们沉住气，一步一步分析问题，总有海阔天空、枯木逢春的一天。接下来我们看看时钟辐射超标的几个常见原因：

1.排线是时钟辐射的良好天线，比如屏排线，摄像头排线，喇叭排线等。很多排线本身没有时钟线，但是会耦合到时钟噪声，所以也需要注意，无论是输入排线（①）还是输出排线（②），都要在接口处做好滤波措施，如有必要，最好再加上磁环。另外，排线的屏蔽接地是非常重要的，一根屏蔽接地良好的排线，可以降低10-30db的辐射。

2.一般CPU都会有参考时钟，如果参考时钟晶体附近有长走线，那么时钟噪声很容易耦合到长走线，从而辐射出去。所以走线要远离晶体，晶体附近也要做好包地处理。

3.很多数据线上也会有时钟噪声（④和⑥），一般在数据线源端做好RC滤波，R取值22或者33欧姆（也可以考虑换成磁珠，增强滤波），C取值33pf以内。

4.时钟走线本身辐射是最强的（⑤和⑦），所以一定要全程包地线处理，走线越短越好，源端滤波最好采用磁珠+电容的方式，磁珠取值60-600欧姆@100MHz，电容取值33pf以内。因为时钟超标一般是100-1000MHz，磁珠用于降低100-500MHz的噪声（500Mhz以上也有较好的滤波效果），电容用于降低500-1000MHz的噪声。

5.PCB上的长走线（⑧）有时候也带有较强的时钟噪声，因为芯片内部电路设计问题，或者pcb走线设计有问题会耦合到时钟噪声。对于长走线，应该用频谱仪探针看看是否有噪声，然后进行滤波。这类走线如果速率很低或者对信号完整性要求很低，就可以加大滤波参数，所以较好解决。

6.靠近时钟线的走线（⑨）很容易耦合到噪声，所以时钟线未包地的情况下，其他走线要远离时钟等高速信号，降低耦合程度。

7.因为时钟滤波参数不能太大，所以很多时钟我们即使知道问题出在哪也无能为力。这个时候就可以考虑在晶体（⑩）上加展频IC，可以有效降低辐射。下图是增加展频前后的测试数据。