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标签 > 高精度测量
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薄膜厚度高精度测量 | 光学干涉+PPS算法实现PCB/光学镀膜/半导体膜厚高效测量
透明薄膜在光学器件、微电子封装及光电子领域中具有关键作用,其厚度均匀性直接影响产品性能。然而,工业级微米级薄膜的快速测量面临挑战:传统干涉法设备庞大、成...
高精度测量硅棒尺寸,深视智能SRI系列一体式3D轮廓测量仪助力半导体质量管控
项目背景在半导体制造领域,硅棒尺寸的精准度直接影响后续切片工序的硅片质量。开方后的硅棒可能存在外观裂纹、空洞、气泡及内部杂质等缺陷,因此对硅棒的几何外形...
日前,德州仪器(TI)推出了业内首款实现零漂移、36V的仪表放大器INA188。该款器件可为测试和测量、医疗、工业过程控制设备等应用中的精密DC和低频测...
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