CEM3000系列桌面式扫描电子显微镜用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析。标配有高性能二次电子探头和多象限背散射探头、并可选配能谱仪、低真空系统，能满足用户对多类型样品的观测需求，实现微观的形貌和元素分析等。
核心优势
1、紧凑灵活，突破空间限制
（1）台式设计，体积小巧，轻松摆放在桌面或狭小空间（如手套箱、移动实验室），节省实验室空间。
（2）支持快速移机，一台设备满足多场景需求，助力科研效率提升。
2、高性能，纳米级分辨率
（1）空间分辨率优于4nm（SE），支持高达200,000倍放大，精准捕捉纳米材料、微流控芯片等样品的微观形貌。
（2）高衬度成像系统，快速扫描也能清晰呈现微弱信号，满足材料科学、生命科学等领域的需求。
3、抗振防磁，稳定无惧挑战
（1）特殊隔振设计（CEM3000B搭载复合抗振系统），消除环境振动与电磁干扰，保障高倍成像质量。
（2）适用于工业车间、车载实验室等复杂环境，稳定可靠。
4、高效便捷，一键智能操作
（1）快速抽放气技术：低真空模式仅需40秒（CEM3000B），高真空模式最快1.5分钟，大幅缩短等待时间。
（2）自动对焦、消像散、图像增强功能，一键生成高质量图片，降低操作门槛。
5、灵活拓展，满足多样需求
（1）可选配低真空系统（5~100Pa），兼容导电/非导电样品观测。
（2）CEM3000系列桌面式扫描电子显微镜支持二次电子、背散射电子探头及能谱仪，搭配颗粒统计、孔隙率测量等定制功能，满足多领域分析需求。
应用场景
材料科学：纳米材料（如60nm银线）、高熵合金粉末、氧化锌等微观结构分析。
新能源：太阳能电池板缺陷检测、涂层性能评估。
生物医疗：微流控芯片表面形貌观测、药物载体研究。
工业质检：锡球颗粒焊接质量、精密器件表面粗糙度检测。
机型选择
CEM3000A（大样品仓型）：70mm×70mm样品仓，兼容大尺寸或多样品批量分析。
CEM3000B（抗振型）：专为振动环境设计，抽气更快（低真空仅40秒），成像更稳定。
部分技术指标
型号 | CEM3000A（大样品仓型） | |
电子枪 | 灯丝 | 钨灯丝 |
分辨率 | 优于4nm(SE)，优于8nm(BSE) @20kV | |
加速电压 | 1 ~ 20kV | |
放大倍数 | 电子图：40 ~ 200,000×（可选配大图拼接） | |
探测器 | 二次电子 | 标配 |
背散射电子 | 标配（四象限高分辨探头） | |
能谱仪 | 选配 | |
自动化软件 | 标配：自动合轴、自动聚焦、自动消像散、一键图像增强 | |
选配：颗粒度统计、孔隙率测量、纤维测量、三维粗糙度重建 | ||
真空系统 | 真空度 | 高真空：优于9×10-3Pa 低真空：5 ~ 100 Pa（选配） |
抽真空时间 | 低真空模式 < 1.5min 高真空模式 < 3min | |
样品台 | 自动轴 | X，Y，T |
手动轴 | R，Z | |
行程范围 | X: 50mm | |
Y: 50mm | ||
R: 0°~360°（手动旋转、电子束旋转） | ||
T: -22.5°~ +22.5° | ||
Z: 45mm | ||
最大样品尺寸 | 70mm×70mm（水平） 45mm（高度） | |
仓内相机 | 导航相机 | 标配高分辨彩色相机 |
侧视相机 | 标配高分辨红外相机 | |
操作系统 图片尺寸 | Windows10 (64bit) | |
640×480 | ||
1280×960 | ||
2560×1920 | ||
5120×3840 | ||
10240×7680 | ||
恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。
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