Texas Instruments LMG3522R030/LMG3522R030-Q1 650V 30mΩ GaN FET具有集成式驱动器和保护功能,适用于开关模式电源转换器。LMG3522R030/LMG3522R030-Q1集成有硅驱动器,可实现高达150V/ns的开关速度。与分立式硅栅极驱动器相比,TI的集成式精密栅极偏置可实现更高的开关SOA。这种集成特性与TI的低电感封装技术相结合,可在硬开关电源拓扑中提供干净的开关和超小的振铃。可调栅极驱动强度允许将压摆率控制在20V/ns至150V/ns 之间,这可用于主动控制EMI并优化开关性能。
数据手册:
TI LMG3522R030/LMG3522R030-Q1 650V 30mΩ GaN FET具有高级电源管理特性,包括数字温度报告和故障检测。报告的故障包括过热、过流和UVLO监控。LMG3522R030-Q1器件符合汽车应用类AEC-Q100标准。
特性
- 带集成栅极驱动器的650V GaN-on-Si FET
- 集成高精度栅极偏置电压
- FET保持关断:200V/ns
- 开关频率:2MHz
- 20V/ns至150V/ns压摆率,用于优化开关性能和缓解EMI
- 在7.5V至18V电源下工作
- 高级电源管理
- 数字温度PWM输出
- 强大的保护功能
- 逐周期过流和锁存短路保护,响应时间<100ns
- 硬开关时可承受720 V浪涌
- 针对内部过热和UVLO监控的自我保护
- 顶部冷却12mm x 12mm VQFN封装可隔离电气和热路径,实现最低功耗环路电感
简化框图
功能框图
?基于LMG352xR030 GaN功率模块的技术解析与应用指南?
?一、核心特性概述?
德州仪器(TI)的LMG352xR030系列是集成驱动与保护的650V/30mΩ GaN FET模块,包含LMG3522R030(基础款)、LMG3526R030(带零电压检测ZVD)和LMG3527R030(带零电流检测ZCD)三款型号。其核心优势包括:
- ?超高频开关性能?:支持2MHz开关频率,可调压摆率20-150V/ns,优化EMI与开关损耗平衡。
- ?全集成保护?:集成过流(<100ns响应)、短路、过热及欠压锁定(UVLO)保护,耐受720V浪涌电压。
- ?先进热管理?:通过PWM信号(9kHz)实时报告结温,精度达±5°C(25°C时)。
- ?拓扑适配性?:LMG3526R030的ZVD功能助力LLC/TCM拓扑实现软开关,LMG3527R030的ZCD功能简化电流过零检测。
?二、关键技术解析?
- ?直接驱动架构?
相比传统级联结构,内部集成硅FET确保无偏压时安全关断,工作时通过负压VNEG(-14V)直接驱动GaN器件,消除反向恢复损耗,降低寄生电感至2.5nH以下(典型布局)。 - ?可编程压摆率?
通过RDRV引脚外接电阻(0Ω-500kΩ)调节压摆率:- 0Ω:150V/ns(最低开关损耗)
- 接LDO5V:100V/ns
- 300kΩ:20V/ns(优化EMI)
- ?Buck-Boost电源设计?
内置反相Buck-Boost转换器需外接4.7μH电感和2.2μF电容,支持两种峰值电流模式(0.4A/1A)以适应不同开关频率需求。
?三、典型应用场景?
- ? 服务器电源(PSU) ?
- 优势:高频开关减少磁性元件体积,ZVD功能提升LLC谐振效率至98%+。
- 设计要点:需采用4层板布局,功率环路电感控制在3nH以内。
- ?太阳能逆变器?
- 优势:30mΩ导通电阻降低导通损耗,集成温度报告简化热设计。
- 保护配置:建议启用周期-by-cycle过流保护应对光伏阵列瞬态。
- ?电机驱动?
- 优势:150V/ns压摆率减少死区时间,提升输出波形质量。
- 注意事项:需配合ISO77xxF隔离器(CMTI >50kV/μs)避免误触发。
?四、设计实践建议?
- ?布局关键?:
- 功率环路优先使用内层铺铜,开关节点铜面积最小化以降低寄生电容。
- VNEG电容(C10)需距引脚<3mm,采用低ESR陶瓷材质(如X7R)。
- ?散热方案?:
顶部散热器需通过0.5mm导热垫连接,热阻θJC(top)为0.28°C/W(12mm×12mm封装)。 - ?故障调试?:
FAULT引脚状态解析:- 常低:VDD UVLO或RDRV开路
- 脉冲低:过温警告(PWM占空比>82%)
?五、选型对比?
型号 | 特色功能 | 适用场景 |
---|---|---|
LMG3522R030 | 基础保护 | 硬开关PFC、DCDC |
LMG3526R030 | ZVD脉冲输出 | LLC、TCM图腾柱PFC |
LMG3527R030 | ZCD脉冲输出 | 同步整流、逆变器 |
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