概伦电子中标南京大学半导体电子测量系统项目

近日，概伦电子具有自主知识产权的器件参数分析仪FS800，成功中标南京大学半导体电子测量系统项目，将为南京大学在忆阻器、神经网络架构等前沿领域的材料研究、器件制备、应用系统开发的全流程，提供高性能、高效率且安全可靠的电性参数测试技术保障，助力科研团队加速突破关键技术难题。电性参数测试是洞悉器件物理特性、验证工艺可行性的关键环节，高精度测试如同科研的“精准测量基石”，为每一次创新探索提供可靠数据支持。随着硅基芯片逼近物理极限，后摩尔时代的前沿半导体研究工作不断突破传统技术边界，新兴材料、新型器件结构、先进工艺迅速发展，科研团队对电性参数测试的精度、效率与适配性的需求也在快速提升。

为精准匹配南京大学在忆阻器、神经形态器件等前沿半导体领域的研究需求，概伦电子基于功能全面、配置灵活的FS800器件参数分析仪，搭建了一整套电性参数测试平台。该平台在单机内集成了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、快速波形发生与测试以及高速时域信号采集等能力，可以为南京大学的突破性科研工作提供全方位、高精度的电性参数测试技术支撑。

模块化架构，灵活部署按需扩展

FS800器件参数分析仪采用概伦电子自主知识产权的模块化混合架构与高速数据总线设计，兼具高精度、高灵活性与强大扩展能力。该平台可按需配置高精度SMU与低漏电矩阵模块，支持多通道并行测试，在单台台式设备中即可覆盖从单器件到大规模阵列的自动化电性参数表征，大幅提升测试效率并加速系统验证进程。

高精度表征，揭示器件细微特性

FS800搭载自研高精度SMU模块FS810，具备宽量程、fA级电流分辨率与精度，能够在广泛的工作条件下精准捕捉二维材料与忆阻器的细微电流电压特性;同时，配合快速波形发生与测量套件，系统采样速率可扩展至100 MS/s、最小脉宽缩短至130 ns，可高效支持忆阻器阻变过程及神经突触器件在脉冲刺激下的高速电导演化的实时捕捉，从多维度实现类脑学习行为与器件可靠性的高精度特性表征与验证。

智能化数据管理与分析，加速科研成果转化

FS800搭载的LabExpress测试软件提供直观的图形化界面与丰富的测试算法库，广泛覆盖忆阻器与神经网络架构等前沿研究中的动态参数、静态参数和可靠性验证等应用场景，用户不仅无需编程即可高效完成各类测试任务，还可通过内置脚本编程平台灵活定制复杂测试应用与批量任务，满足个性化实验需求，同时配合实时可视化、统计分析和高效导出功能，大幅提升科研过程中的数据管理效率与分析深度，加速从材料探索到器件应用的完整研发闭环。

此次中标不仅是南京大学对概伦电子产品性能与技术实力的高度认可，更是概伦电子以自主创新的量测解决方案助力半导体前沿研究的重要里程碑。未来，概伦电子将持续以前沿科研和产业需求为导向，坚持量测技术创新，为南京大学及更多科研机构提供更精准、高效的测试解决方案，携手突破技术创新边界，加速前沿应用落地，共同推进半导体行业迈向新的发展阶段。