本文介绍了一种基于英飞凌S-cell产品(1.2kV/SiC)的嵌入式PCB方案的新型功率模块概念。利用Ansys和SPICE仿真,在热阻(Rth、Zth、热耦合等)和电气特性(系统杂散电感、电压尖峰、开关损耗等)等方面进行和传统封装的SiC模块的对比。最后,基于PLECS进行器件建模和逆变电路搭建,结合典型工况进行了详细的仿真分析并总结。
01
基于S-cell的嵌入式PCB方案介绍
1.1英飞凌S-cell产品技术的介绍
英飞凌S-cell LV MOSFET产品已在xEV应用的48V系统中量产。为了将类似技术推广到xEV主逆变器应用中,高压版的1200V车载碳化硅芯片S-cell产品的基本结构,如下:
图1. 英飞凌1200V/SiC S-cell产品基本结构
1.2基于S-cell的嵌入式PCB方案的一种概念设计
图2. 基于S-cell的嵌入式PCB方案的概念设计之一
基于目前PCB制造商的创新技术和工艺制程,有多种不同S-cell嵌入式PCB方案与设计。图2所示的是其中的一种基于S-cell的嵌入式PCB方案的概念设计,PCB正面用于电气连接,PCB背面用于散热连接。
02
基于S-Cell的PCB方案的热性能分析
2.1S-Cell PCB方案和传统模块方案的Setup与布局
图3. S-Cell PCB方案和传统模块方案的Setup与布局
2.2S-Cell PCB方案和传统模块方案的Rth仿真对比
图4. S-Cell PCB方案和传统模块方案的Rth仿真对比
2.3S-Cell PCB方案和传统模块方案的Zth仿真对比
图 5. S-Cell PCB方案和传统模块方案的Zth仿真对比
03
基于 S-cell的PCB方案的电气性能分析
3.1基于S-cell的PCB方案的系统杂散电感
基于S-cell的PCB方案,借助PCB的灵活布局和表贴式的吸收电容,能显著降低系统的杂散电感(2nH~5nH),可用更小Rg电阻,从而优化SiC MOSFET的开关特性:
(1)降低Vds峰值,降低Eoff损耗
(2)降低Vsd峰值,降低Eon损失
(3)能支持更高的电池电压系统
3.2SPICE仿真分析系统杂散电感对Esw的影响
图6. 系统杂散电感对Esw的影响(SPICE仿真)
04
基于S-cell PCB方案的xEV逆变器系统分析
4.1基于S-cell PCB方案(4x)与传统模块的PLECS仿真setup
4.2峰值工况(100%*负载)PLECS仿真性能
基于S-cell的PCB方案相比传统模块,在40kV/us开关速度时,峰值工况可获得约最多约16%的输出电流能力提升。
图 7. 逆变器输出电流能力的对比(PLECS仿真)
4.3轻载工况(20%*负载)PLECS仿真性能
基于S-cell的PCB方案相比传统模块,在40kV/us开关速度时,轻载工况可获得最多约0.14%的轻载效率提升。
图 8. 逆变器轻载效率的对比(PLECS仿真)
结论
本文利用Ansys、SPICE和PLECS仿真分析,相比传统封装的模块,基于S-cell的PCB方案,Rth热阻有4~21%的降低,开关损耗Esw有4~60%的优化;在逆变器系统层面,有3~16%的输出电流增加和0.08~0.14%的轻载效率提高。
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