我们很高兴展示基于台积电成熟 N4 工艺打造的Gen1 UCIe IP 的 16GT/s 眼图。该 IP 一次流片成功且眼图清晰开阔,为寻求 Die-to-Die连接的客户再添新选择。
图1:Cadence UCIe IP 的 16GT/s 接收端眼图
UCIe 提供芯片间连接,支持跨技术节点的异构集成。凭借我们经过流片验证的 D2D IP,这一突破为我们共有的客户在多芯片设计实施上提供了更大灵活性。这建立在我们先前展示的 16GT/s IP 成功基础上,其标准和先进的 3nm 封装设计均已被 IEEE 会议收录。
广泛的测试旨在最大限度地覆盖用例,这一直是 Cadence 芯片验证的基石。为此,我们在台积电 N4 工艺上的 UCIe 测试芯片集成了三对(而非一对)芯片间连接,成功演示了跨多种通道长度的数据传输。芯片对间距分别为 5mm、15mm 和 25mm,基板尺寸为 50mm×50mm。
图2:Cadence 采用大尺寸基板设计测试多种通道长度
与所有 UCIe-SP 测试芯片一样,发射端(Tx)眼图也输出至商用示波器,实现对信号质量的实时监测。这进一步证明了设计的稳健性,并让我们能更深入地了解这款低功耗、高速 IP 的性能。
图3:16GT/s 发射端输出眼图
(连接至示波器,PRBS23 码型)
自 2018 年以来,Cadence 一直是高速 D2D 连接领域值得信赖的 IP 合作伙伴。此次最新的 16GT/s UCIe 流片演示延续了我们的征程。
欢迎联系我们,一起探讨 Cadence 丰富的 D2D 经验及广泛的芯片间连接 IP 组合如何助力加速您的分解式设计。
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原文标题:硅片一次性成功:Cadence 基于台积电 N4 工艺交付 16GT/s UCIe Gen1 IP
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