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德州仪器LMG3522R050 650V GaN FET集成驱动技术解析

科技观察员 ? 2025-08-06 11:20 ? 次阅读
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Texas Instrument LMG3522R050 650V GaN FET具有集成式驱动器和保护功能,适用于开关模式电源转换器,可让设计人员实现更高水平的功率密度和效率。LMG3522R050集成了一个硅驱动器,可实现高达150V/ns的开关速度。与分立式硅栅极驱动器相比,TI的集成式精密栅极偏置可实现更高的开关SOA。这种集成特性与TI的低电感封装技术相结合,可在硬开关电源拓扑中提供超小的振铃和干净的开关。可调栅极驱动强度允许将压摆率控制在15V/ns至150V/ns之间,这可用于主动控制EMI并优化开关性能。

数据手册:*附件:Texas Instruments LMG3522R050 650V GaN FET数据手册.pdf

高级电源管理功能包括数字温度报告和故障检测。GaN FET的温度通过可变占空比PWM输出进行报告,这可简化器件加载管理。报告故障包括过温、过流和UVLO监控。

特性

  • 带集成栅极驱动器的650V GaN-on-Si FET
    • 集成高精度栅极偏置电压
    • 200V/ns FET释抑
    • 3.6MHz开关频率
    • 15V/ns到150V/ns转换速率,用于优化开关性能和缓解EMI
    • 在7.5V至18V电源下工作
  • 高级电源管理
    • 数字温度PWM输出
  • 强大的保护功能
    • 逐周期过流和锁存短路保护,响应时间<100ns
    • 硬开关时可承受720 V浪涌
    • 针对内部过热和UVLO监控的自我保护
  • 顶部冷却12mm × 12mm VQFN封装将电气路径和热路径分开,以实现最低的功率环路电感

简化框图

1.png

德州仪器LMG352xR050 650V GaN FET集成驱动技术解析

核心技术特性

1. 集成驱动架构

  • ?直接驱动技术?:摒弃传统cascode结构,采用Si FET与GaN器件串联的直接驱动架构
  • ?可调开关速率?:通过RDRV引脚可调节15-150V/ns的开关速率
  • ?高精度栅极偏置?:集成精密栅极偏置电压,提供优于分立硅栅极驱动的开关性能
  • ?高频能力?:支持最高3.6MHz开关频率(VVDD≥9V时)

2. 先进保护机制

  • ? 过流保护(OCP) ?:45-65A阈值,循环周期保护模式
  • ? 短路保护(SCP) ?:65-95A阈值,<100ns响应时间
  • ?双重温度保护?:
    • GaN过热保护:175℃触发(30℃迟滞)
    • 驱动器过热保护:185℃触发(20℃迟滞)
  • ?电源监控?:VDD和VNEG UVLO保护

3. 热管理创新

  • ?数字温度报告?:通过TEMP引脚输出9kHz PWM信号,占空比对应结温(25℃时为3%,150℃时为82%)
  • ?热共享设计?:顶部冷却封装分离电气和热路径
  • ? θJC(top) ?:0.68°C/W(顶部至外壳热阻)

关键技术创新

1. 直接驱动GaN架构

LMG352xR050采用创新的直接驱动架构,通过内部buck-boost转换器产生-14V负电压直接关断GaN器件。相比传统cascode结构具有三大优势:

  1. 降低GaN栅源电荷(QGS)
  2. 避免Si MOSFET雪崩风险
  3. 实现可调的开关速率控制

2. 零电压检测功能(仅LMG3526R050)

  • ?ZVD引脚?:检测到零电压开关(ZVS)时输出75-140ns脉冲信号
  • ?应用价值?:简化LLC、TCM图腾柱PFC等软开关拓扑的设计
  • ?典型参数?:
    • 检测延迟(TDL_ZVD):15-30ns
    • 脉冲宽度(TWD_ZVD):75-140ns
    • 最小第三象限导通时间(T3rd_ZVD):42-56ns

3. 理想二极管模式(OTSD-IDM)

当GaN器件过热时自动进入特殊保护模式:

  1. 阻断第一象限电流(正向关断)
  2. 导通第三象限电流(反向导通)
  3. 状态机包括三个工作状态,通过监测IN信号和VDS实现智能切换

典型应用设计

1. 半桥配置要点

?关键元件选型?:

  • ?BBSW电感?:4.7μH(饱和电流>1A)
  • ?VNEG电容?:2.2μF陶瓷电容(低ESR)
  • ?栅极电阻?:根据所需开关速率选择1-500kΩ

?布局指南?:

  1. 采用4层PCB板设计
  2. 功率回路面积最小化(典型值2.5nH)
  3. VNEG去耦电容就近放置(距离<5mm)
  4. 信号走线下方设置接地屏蔽层

2. 热设计建议

  • ?散热方案?:顶部安装散热器(需电气隔离)
  • ?PCB热优化?:
    • 使用3oz铜厚
    • 添加散热过孔阵列(直径0.3mm,间距1mm)
    • 底部开关节点铜面积最小化

3. 故障处理机制

故障类型检测方式响应时间恢复方式
过流电流阈值<170ns周期循环
短路di/dt检测<100ns需IN复位
过热温度传感器-自动恢复
UVLO电压监测-自动恢复

性能参数对比

参数LMG3522R050LMG3526R050单位
RDS(on)@25℃4343
峰值驱动电流±10±10A
开关速率范围15-15015-150V/ns
ZVD功能-
工作结温-40~125-40~125

设计资源

TI为LMG352xR050提供完整支持:

  • ?参考设计?:TIDA-020031(半桥方案)
  • ?计算工具?:栅极驱动设计Excel工具
  • ?模型文件?:PSpice和IBIS模型
  • ?安全文档?:ISO 26262 ASIL B合规报告

应用领域

  1. ?服务器/电信电源?:
    • 高效率PFC电路
    • 高频DC-DC转换
  2. ?可再生能源?:
  3. ?工业驱动?:
  4. ?汽车电子?:
    • 车载充电器(OBC)
    • 48V/12V DC-DC转换器

总结

LMG352xR050系列通过高度集成解决了GaN应用中的关键挑战:

  • 集成驱动简化布局并提高可靠性
  • 可调开关速率优化EMI与效率平衡
  • 先进保护机制增强系统鲁棒性
  • 温度监测实现智能热管理

随着电力电子向高频高效发展,此类智能GaN解决方案将在数据中心、电动汽车和可再生能源领域发挥越来越重要的作用。设计人员应特别注意功率回路布局和热设计,以充分发挥器件性能潜力。

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