Texas Instrument LMG3522R050 650V GaN FET具有集成式驱动器和保护功能,适用于开关模式电源转换器,可让设计人员实现更高水平的功率密度和效率。LMG3522R050集成了一个硅驱动器,可实现高达150V/ns的开关速度。与分立式硅栅极驱动器相比,TI的集成式精密栅极偏置可实现更高的开关SOA。这种集成特性与TI的低电感封装技术相结合,可在硬开关电源拓扑中提供超小的振铃和干净的开关。可调栅极驱动强度允许将压摆率控制在15V/ns至150V/ns之间,这可用于主动控制EMI并优化开关性能。
数据手册:*附件:Texas Instruments LMG3522R050 650V GaN FET数据手册.pdf
高级电源管理功能包括数字温度报告和故障检测。GaN FET的温度通过可变占空比PWM输出进行报告,这可简化器件加载管理。报告故障包括过温、过流和UVLO监控。
特性
- 带集成栅极驱动器的650V GaN-on-Si FET
- 集成高精度栅极偏置电压
- 200V/ns FET释抑
- 3.6MHz开关频率
- 15V/ns到150V/ns转换速率,用于优化开关性能和缓解EMI
- 在7.5V至18V电源下工作
- 高级电源管理
- 数字温度PWM输出
- 强大的保护功能
- 逐周期过流和锁存短路保护,响应时间<100ns
- 硬开关时可承受720 V浪涌
- 针对内部过热和UVLO监控的自我保护
- 顶部冷却12mm × 12mm VQFN封装将电气路径和热路径分开,以实现最低的功率环路电感
简化框图
德州仪器LMG352xR050 650V GaN FET集成驱动技术解析
核心技术特性
1. 集成驱动架构
- ?直接驱动技术?:摒弃传统cascode结构,采用Si FET与GaN器件串联的直接驱动架构
- ?可调开关速率?:通过RDRV引脚可调节15-150V/ns的开关速率
- ?高精度栅极偏置?:集成精密栅极偏置电压,提供优于分立硅栅极驱动的开关性能
- ?高频能力?:支持最高3.6MHz开关频率(VVDD≥9V时)
2. 先进保护机制
- ? 过流保护(OCP) ?:45-65A阈值,循环周期保护模式
- ? 短路保护(SCP) ?:65-95A阈值,<100ns响应时间
- ?双重温度保护?:
- GaN过热保护:175℃触发(30℃迟滞)
- 驱动器过热保护:185℃触发(20℃迟滞)
- ?电源监控?:VDD和VNEG UVLO保护
3. 热管理创新
- ?数字温度报告?:通过TEMP引脚输出9kHz PWM信号,占空比对应结温(25℃时为3%,150℃时为82%)
- ?热共享设计?:顶部冷却封装分离电气和热路径
- ? θJC(top) ?:0.68°C/W(顶部至外壳热阻)
关键技术创新
1. 直接驱动GaN架构
LMG352xR050采用创新的直接驱动架构,通过内部buck-boost转换器产生-14V负电压直接关断GaN器件。相比传统cascode结构具有三大优势:
- 降低GaN栅源电荷(QGS)
- 避免Si MOSFET雪崩风险
- 实现可调的开关速率控制
2. 零电压检测功能(仅LMG3526R050)
- ?ZVD引脚?:检测到零电压开关(ZVS)时输出75-140ns脉冲信号
- ?应用价值?:简化LLC、TCM图腾柱PFC等软开关拓扑的设计
- ?典型参数?:
- 检测延迟(TDL_ZVD):15-30ns
- 脉冲宽度(TWD_ZVD):75-140ns
- 最小第三象限导通时间(T3rd_ZVD):42-56ns
3. 理想二极管模式(OTSD-IDM)
当GaN器件过热时自动进入特殊保护模式:
典型应用设计
1. 半桥配置要点
?关键元件选型?:
?布局指南?:
- 采用4层PCB板设计
- 功率回路面积最小化(典型值2.5nH)
- VNEG去耦电容就近放置(距离<5mm)
- 信号走线下方设置接地屏蔽层
2. 热设计建议
- ?散热方案?:顶部安装散热器(需电气隔离)
- ?PCB热优化?:
- 使用3oz铜厚
- 添加散热过孔阵列(直径0.3mm,间距1mm)
- 底部开关节点铜面积最小化
3. 故障处理机制
故障类型 | 检测方式 | 响应时间 | 恢复方式 |
---|---|---|---|
过流 | 电流阈值 | <170ns | 周期循环 |
短路 | di/dt检测 | <100ns | 需IN复位 |
过热 | 温度传感器 | - | 自动恢复 |
UVLO | 电压监测 | - | 自动恢复 |
性能参数对比
参数 | LMG3522R050 | LMG3526R050 | 单位 |
---|---|---|---|
RDS(on)@25℃ | 43 | 43 | mΩ |
峰值驱动电流 | ±10 | ±10 | A |
开关速率范围 | 15-150 | 15-150 | V/ns |
ZVD功能 | 无 | 有 | - |
工作结温 | -40~125 | -40~125 | ℃ |
设计资源
TI为LMG352xR050提供完整支持:
- ?参考设计?:TIDA-020031(半桥方案)
- ?计算工具?:栅极驱动设计Excel工具
- ?模型文件?:PSpice和IBIS模型
- ?安全文档?:ISO 26262 ASIL B合规报告
应用领域
总结
LMG352xR050系列通过高度集成解决了GaN应用中的关键挑战:
- 集成驱动简化布局并提高可靠性
- 可调开关速率优化EMI与效率平衡
- 先进保护机制增强系统鲁棒性
- 温度监测实现智能热管理
随着电力电子向高频高效发展,此类智能GaN解决方案将在数据中心、电动汽车和可再生能源领域发挥越来越重要的作用。设计人员应特别注意功率回路布局和热设计,以充分发挥器件性能潜力。
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