LCR测试仪中LP（Parallel）与LS（Series）模式的区别

一、核心差异：测量模型不同
1. LP模式（并联模式）
将元件视为理想元件与寄生电阻并联的模型（如电感与寄生电容并联）。
适用于高频场景（通常>1MHz），此时元件寄生电容（如线圈分布电容）形成并联支路，影响总阻抗。
测量结果反映元件在高频下的综合性能（如高频扼流圈）。
2. LS模式（串联模式）
将元件视为理想元件与寄生电阻串联的模型（如电感与寄生电阻串联）。
适用于中低频场景（通常<1MHz），此时寄生电阻与主参数（如电感）串联，影响总阻抗。
常用于评估元件在低频下的损耗特性（如变压器绕组）。

二、关键参数差异
损耗因子（D/Q值）
LP模式：D值反映并联电阻与电抗的比值，适合分析高频损耗。
LS模式：D值反映串联电阻与电抗的比值，适合分析低频发热损耗。
同一元件在两种模式下测得的Q值（Q=1/D）可能不同，需结合应用场景判断。
三、应用场景对比
1. 电感测试
低频绕组（<100kHz）：用LS模式，减少分布电容干扰。
高频扼流圈（>500kHz）：用LP模式，准确评估寄生电容影响。
2. 电容测试
陶瓷电容（高频应用）：用LP模式测ESR（等效串联电阻），评估高频稳定性。
电解电容（低频滤波）：用LS模式测ESL（等效串联电感），优化电路谐振点。
3. 其他场景
射频电路匹配：LP模式适合分析天线元件的寄生参数。
电源滤波电路：LS模式适合评估元件串联阻抗，确保纹波抑制效果。
四、误差与校准注意事项
引线寄生参数
长测试线在高频下引入电感，可能导致LP模式测量值偏高，建议使用四线开尔文连接法。
测试夹具电容在LS模式下可能影响测量结果，需通过开路/短路校准消除系统误差。
频率依赖性
当测试频率接近元件自谐振点时，两种模式结果差异大，需结合频率特性曲线（如Bode图）选择合适的模式。
五、选择LP/LS模式的实用指南
1. 根据元件工作频率
若工作频率远低于自谐振频率（$f_{res}$），选LS模式。
若工作频率接近或高于0.1$f_{res}$，选LP模式。
2. 根据损耗分析需求
关注元件发热损耗（如线圈直流电阻）选LS模式。
关注高频介质损耗或寄生电容影响选LP模式。
3. 参考元件手册
优先选择厂家推荐的测试模式，尤其是高频元件（如射频电感、陶瓷电容）。

LP与LS模式的选择本质是匹配元件的频率特性与寄生参数模型。低频用LS模式突出串联损耗，高频用LP模式突出并联效应。理解二者差异，能有效提升元件测试准确性和电路设计优化效率。

审核编辑 黄宇