手机高温禁区突围！英麦科半导体薄膜电感160℃·1000H极限实验可靠性实证报告

手机心脏的"烤"验战场

5G手机主板局部温度突破95℃（快充芯片/射频前端/图像处理器区域）

"当你的手机：

边快充边玩《悟空》时→电感温度飙升至110℃

4K视频连续拍摄时→电感持续工作在85℃+

地铁刷剧1小时后→主板形成局部高温区

传统电感正在经历材料疲劳的隐形崩塌..."

1. 实验标准对比（严于车载产品标准）

2. 实验前后形态对比(产品内、外部无开裂情形）

3、性能验证：同规格产品与某台系规格参数比对试验后平均降幅小

·L值测试设备：Keysight E4980A LCR表（精度0.05%）

·DCR值测试设备：Keysight E4980A LCR表（精度0.05%）

vs

4、技术解析：为何能通过地狱级考验？

①材料革命

160℃高温测试材料磁导率变化曲线:（250H~1000H材料变化率低）

②成型工艺对比

英麦科-液态等静压成型工艺

全方位温度压力控制：

外层/核心层：200℃快速固化→形成保护壳，消除内应力

VS

台系品牌-机械模压成型工艺

传统机械式模压

成型压力：6吨、20吨、30吨、60吨

单颗产品受力约400~500kg,受模具影响，

产品受力不均，线圈易变形，且居中度不佳

③ 材料对比

英麦科—耐高温介质材料

玻璃化转变温度（Tg）：280℃（竞品180℃）

热膨胀系数（CTE）：2.8ppm/℃（竞品5.5ppm/℃）

VS

其他品牌——常规材料，磷化工艺搭配树脂混合使用

可靠性提升公式

MTBF(XX) = e^(ΔT/10) × MTBF(常规)

（ΔT=验证温差35℃ → 理论寿命提升32倍）

审核编辑 黄宇