概述
HMC570是一款紧凑型GaAs MMIC I/Q下变频器,在整个频段范围内提供10 dB的小信号转换增益、3 dB的噪声系数和17 dB的镜像抑制性能。 该设备采用LNA,后接由有源2倍频器驱动的镜像抑制混频器。 该镜像抑制混频器使得LNA之后无需使用滤波器,并可消除镜像频率下的热噪声。
它具有I和Q混频器输出,所需外部90?混合型器件用于选择所需边带。 以下所示的数据均通过安装在50 Ohm测试夹具中的芯片获取,且包括每个端口上直径为1 mil、长度为20 mil的焊线效应。 该产品为混合型镜像抑制混频器下变频器组件的小型替代器件。
数据表:*附件:HMC570 GaAs MMIC I Q接收机芯片技术手册.pdf
应用
- 点对点
- 点对多点无线电
- 军用雷达、EW和ELINT
- 卫星通信
特性
- 转换增益: 10 dB
- 镜像抑制: 17 dB
- 2 LO至RF隔离: 35 dB
- 噪声系数: 3 dB
- 输入IP3: +3 dBm
- 裸片尺寸: 2.33 x 2.73 x 0.10mm
逻辑图
电气规格
外形图
焊盘描述
典型应用
毫米波砷化镓单片微波集成电路(GaAs MMIC)的安装与键合技术
芯片应通过共晶方式或使用导电环氧直接连接到接地层(详见HMC通用操作、安装、键合说明 )。建议使用0.127毫米(5密耳)厚的氧化铝薄膜衬底制作50欧姆微带传输线,用于芯片的射频信号传输(图1)。如果使用0.254毫米(10密耳)厚的氧化铝薄膜衬底,芯片需凸起0.150毫米(6密耳),使芯片表面与衬底表面齐平。实现此目的的一种方法是将0.102毫米(4密耳)厚的芯片附着到0.150毫米(6密耳)厚的钼散热片(钼片)上,然后再将其连接到接地层(图2)。
为了缩短键合线长度,微带衬底应尽可能靠近芯片放置。芯片与衬底的典型间距为0.076毫米(3密耳)。
操作注意事项
遵循以下预防措施,以免造成永久性损坏:
- 存储 :所有裸芯片应放置在基于醚华夫格或凝胶的静电防护容器中,然后密封在静电防护袋中运输。静电防护袋一旦打开,所有芯片应存放在干燥的氮气环境中。
- 清洁度 :在清洁环境中操作芯片,请勿使用液体清洁系统清洁芯片。
- 静电敏感度 :遵循静电防护措施,防止静电冲击(> ±250V静电冲击)。
- 瞬态 :施加偏置时,抑制仪器和偏置电源的瞬态。使用屏蔽信号线和偏置电缆,以减少电感拾取。
- 一般操作 :使用真空吸笔或锋利的弯头镊子沿芯片边缘操作芯片。芯片表面可能有脆弱的空气桥,请勿用真空吸笔、镊子或手指触碰。
安装
芯片背面已金属化,可使用金锡共晶预制件或导电环氧进行贴装。贴装表面应清洁平整。
- 共晶芯片贴装 :推荐使用80/20的金锡预制件,工作表面温度为255°C,工具温度为265°C。使用90/10的氮氢混合气体时,工具尖端温度应为290°C。请勿使芯片暴露在高于320°C的温度下超过20秒,贴装过程中擦拭时间不得超过3秒。
- 环氧贴装 :在贴装表面涂抹少量环氧,确保芯片放置到位后,其周边能形成一圈薄环氧边。按制造商的固化时间表固化环氧。
引线键合
推荐使用直径0.025毫米(1密耳)的纯金线进行球键合或楔键合。热压超声键合时,推荐使用的典型工作台温度为150°C,球键合压力为40 - 50克,楔键合压力为18 - 22克。使用最小限度的超声波能量,以实现可靠键合。键合从芯片开始,在封装或衬底上结束。所有键合线应尽可能短,长度小于0.31毫米(12密耳)。
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