资料介绍
The 'LVTH18512 and 'LVTH182512 scan test devices with 18-bit universal bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Std 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished via the 4-wire test access port (TAP) interface.
Additionally, these devices are designed specifically for low-voltage (3.3-V) VCC operation, but with the capability to provide a TTL interface to a 5-V system environment.
In the normal mode, these devices are 18-bit universal bus transceivers that combine D-type latches and D-type flip-flops to allow data flow in transparent, latched, or clocked modes.
- SN74LVTH18512-EP/SN74LVTH182512-EP数据表
- SN54LVT18512,SN54LVT182512,SN74LVT18512,SN74LVT182512数据表
- SN54LVTH162245数据手册 2次下载
- SN54LVTH16835,SN74LVTH16835,pd
- SN54LVTH18646A,SN54LVTH182646A
- SN54LVTH18652A,SN54LVTH182652A
- SN54LVTH18504A,SN54LVTH182504A
- SN54LVTH18502A,SN54LVTH182502A
- SN54LVTH16373, SN74LVTH16373,p
- SN54LVTH162373, SN74LVTH162373
- SN54LVTH162374, SN74LVTH162374
- SN54LVTH162245, SN74LVTH162245
- SN54LVTH16952, SN74LVTH16952,p
- SN54LVTH162244, SN74LVTH162244
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