PXI/PXIe仿真模块结合高压能力、灵活通道配置及宽广电阻范围
2025年8月 15 日,英国克莱克顿海滨—— 作为电子测试与验证用模块化信号开关及仿真解决方案的领先供应商,Pickering Interfaces宣布推出全新系列高压可编程电阻模块,采用紧凑的单插槽PXI 和PXIe 形式,型号分别为40-230(PXI)和42-230(PXIe),可轻松应对高达1.2kV 的电压应用需求。
作为Pickering 可编程电阻模块家族的最新扩展产品,该系列提供多达70 种标准配置,其中包含4 款单通道版本,覆盖广泛的电阻范围和分辨率选择,为汽车、航空航天及能源等行业的高压被测设备(DUT)提供真实电阻负载与故障状态仿真能力。
40/42-230 高压可编程电阻模块在模拟高压系统的真实负载及安全测试中发挥关键作用,适用于电动车(EV)功率逆变器、电池管理系统(BMS)及部分航空航天元件等高压DUT 的验证。工程师可利用该模块执行电压隔离测试,确保高压系统的安全性及符合ISO 6469、IEC 60664 等国际安全标准。
此外,该模块可在高压环境下模拟热敏电阻(Thermistors)及热电阻(RTDs)等传感器信号,实现无需真实传感器硬件的安全测试。在HIL(硬件在环)仿真测试ECU(电子控制单元)时,每个通道都可设定短路或开路状态,以验证控制器在传感器或连接异常情况下的响应,从而提升测试覆盖率。
Pickering 仿真产品经理Stephen Jenkins 表示:
“基于我们在传感器与电池仿真领域的持续投入,这款新品是少数可支持高达1.2kV 电压的PXI/PXIe 模块之一,非常适用于电动车、航空航天及电力电子测试平台等高压环境。随着高压系统的快速普及,工程师面临确保高低压子系统安全协作的重大挑战,而该模块正是解决此问题的理想工具。”
该模块在单插槽内最多可提供4 个通道,具有灵活的多通道配置、1Ω 至76.8MΩ 的宽电阻范围及高达0.125Ω 的分辨率。模块内置硬件联锁及自诊断功能,进一步保障测试安全。其主要应用场景包括:
·汽车电动车及航空航天系统的高压测试环境;
·需要快速重新配置电阻值的测试应用;
·PXI 插槽有限、需使用多通道模块的系统;
·需要故障插入功能的HIL 仿真平台。
40/42-230 提供70 种标准配置,包括:
·窄电阻范围版本(2 通道或4 通道)
·中等电阻范围版本(1 通道或2 通道)
·宽电阻范围版本(1 通道)
软件控制简便,用户只需调用所需电阻值,模块会自动设置最接近的阻值,并可返回实际设定值。为确保长期精度,用户可通过选配的校准线缆将模块连接至数字万用表(DMM),简化电阻通道的定期校准流程。
与传统仅依赖软件保护的方案不同,40/42-230 系列模块配备硬件联锁功能,当触发联锁时,所有继电器将自动恢复至默认断电状态(在开关功能完好的情况下),并通过软件接口发出错误通知。该联锁功能可级联至其他支持联锁的模块,实现一键联动关闭多张卡片。
驱动程序支持Windows、Linux 及实时操作系统,超越市场多数竞品。Pickering Interfaces 的所有标准产品均享有三年质保及长期产品支持。
关于Pickering Interfaces
Pickering Interfaces 专注于模块化信号开关及仿真解决方案的设计与制造,用于电子测试与验证领域。我们提供业内最广泛的PXI、LXI 和PCI 平台的开关与仿真产品组合,并配套提供线缆和连接器解决方案、诊断测试工具以及由内部软件团队开发的应用软件和驱动程序。
Pickering 的产品已广泛应用于全球测试系统中,以卓越的可靠性和出色的性价比赢得良好声誉。公司在美国、英国、德国、瑞典、法国、捷克及中国均设有直属分支机构,并在美洲、欧洲及亚洲的多个国家和地区拥有广泛的合作伙伴网络。我们的解决方案服务于所有电子产业,包括汽车、航空航天与国防、能源、工业、通信、医疗及半导体等领域。
-
可编程电阻器
+关注
关注
0文章
3浏览量
7564 -
Pickering
+关注
关注
0文章
56浏览量
13691
发布评论请先 登录

《电子发烧友电子设计周报》聚焦硬科技领域核心价值 第24期:2025.08.11--2025.08.15
SLMi8233BDCG 40V4A双通道死区可编程隔离驱动器兼容UCC21520DW
格平科技推出1200W可编程开关电源
可编程交流负载标准
可编程电阻焊控制器:智能化工业焊接新解决方案探究
瑞萨电子推出全新AnalogPAK可编程混合信号IC系列
爱普生 SG - 8201CJA 可编程振荡器成为电子应用的解决方案

德州仪器推出全新可编程逻辑产品系列
用TMAG5328电阻器和电压可编程霍尔效应开关实现可编程性和诊断

Pickering Interfaces 发布最新可编程电阻模块——既适用于功能性测试与验证,也适用于硬件在环(HIL)应用

评论