电子兼容EMC实验室有哪些免费整改测试项目？-电子发烧友网

一、辐射发射（RE）

辐射发射（RE）

辐射发射（Radiated Emission，简称RE）测试是一种用于评估电子设备通过空间辐射方式向外界发射电磁干扰的测试方法。该测试旨在确保设备在正常运行时不会对其他电子设备或无线通信系统造成有害干扰，符合电磁兼容性（EMC）法规要求。

测试频率：30MHz~6GHz（部分高频设备扩展至更高频率）

目前优恩半导体实验室可检测如下测试标准：

CISPR 11、CISPR 22、CISPR 15、CISPR 14-1、CISPR 25

GB 4824、GB 9254、GB/T 17743、GB/T 4343.1、GêB/T 18655

二、传导发射（CE）

传导发射（CE）

传导发射（Conducted Emission，简称CE）测试是一种用于评估电子设备通过电源线或信号线向电网或其他设备传导高频干扰的测试方法。这种测试旨在确保设备在正常工作时不会对公共电网或其他连接设备造成电磁干扰，符合电磁兼容性（EMC）法规要求。

测试频率：150kHz~30MHz

目前优恩半导体实验室可检测如下测试标准：

CISPR 11、CISPR 22、CISPR 15、CISPR 14-1、CISPR 25

GB 4824、GB 9254、GB/T 17743、GB/T 4343.1、GB/T 18655

三、静电放电抗扰度（ESD）

静电放电抗扰度（ESD）

ESD（Electrostatic Discharge）静电抗扰度测试是用于评估设备在静电放电干扰下的抗干扰能力的测试方法。这种测试通常用于评估电子设备在静电放电环境下的可靠性和稳定性，以确保其在面对静电放电时能够正常工作。

测试能力：接触放电、空气放电±30kV

目前我们优恩可满足如下测试标准：

GB/T 17626.2

IEC61000-4-2

ISO 10605

四、电快速瞬变脉冲群抗扰度（EFT/B）

电快速瞬变脉冲群抗扰度（EFT/B）

电快速瞬变脉冲群抗扰度（Immunity to Electrical Fast Transient/Bursts，简称EFT/B）测试是一种用于评估设备在电快速瞬变脉冲群干扰下的抗干扰能力的测试方法。这种测试主要模拟设备在运行过程中可能遇到的开关动作、继电器触点弹跳等引起的瞬态干扰，以确保设备在复杂电磁环境中能够稳定工作。

测试能力：±4KV

目前优恩半导体实验室可检测如下测试标准：

GB/T 17626.4

IEC 61000-4-4

五、汽车电子EMC测试