在产品开发阶段,研发工程师可能会使用信号发生器来替代系统的本地振荡器(LO)和时钟子系统。这些措施能有效提升研发效率、降低验证成本,并确保系统设计的可靠性。
图 1 展示了一个简单的接收机示例:当本振和时钟组件的电路原型尚未完成设计时,可使用 AP500xA 系列信号发生器作为本振和时钟的替代源。第一台信号发生器连接至混频器,充当本振替代源;混频器的输出信号随后通过带通滤波器,以过滤出目标信号;目标信号经放大后,由模数转换器(ADC)采样,再送入现场可编程门阵列(FPGA)进行后续信号处理。
在此场景中,ADC 和 FPGA 的时钟(由 AP500xA 替代)被配置为不同频率,通过连接两者的内部参考振荡器实现频率锁定;若有需要,也可将本振信号发生器与这两个时钟源进行频率锁定,确保各模块时钟的相位一致性。
图1:AP500x系列射频信号源用作本振及时钟替代
使用信号发生器替代振荡器和时钟组件的优势之一,是能通过具有优异信号纯度(低相位噪声和低杂散信号)的信号源验证系统运行状态。相位噪声用于衡量射频源的频率稳定性,通常包括长期稳定性(常用百万分比 PPM 表示)和由信号源内部随机波动导致的短期稳定性;杂散信号则是不期望的非谐波相关频率分量。由于杂散和相位噪声会影响接收机性能,因此选择如 AP500xA 这类高纯度信号发生器,可在系统组件开发阶段进行性能对比。图 2中的表格显示,AP500xA 在 1 GHz 频率、20 kHz 偏移条件下的相位噪声低至 - 130 dBc/Hz。
图2:AP500x系列射频信号源的前后面板及参数指标
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原文标题:利用高精度模拟信号源,实现本振/时钟替代
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