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赋能多场景检测,纳芯微推出可感应不同平面的车规旋转位置和线性位移检测传感器

纳芯微 ? 来源:Kimberly55555 ? 作者:Kimberly55555 ? 2025-06-27 16:29 ? 次阅读
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近日,纳芯微推出了集成聚磁片(IMC)的汽车角度传感器芯片MT652x系列。该系列芯片具备卓越的多平面角度位置与线性位移检测能力,并符合AEC-Q100 Grade-0车规等级及ISO26262 ASIL B功能安全标准,确保每一次位置变化的测量都精准无误。MT652x系列芯片为汽车油门踏板、方向盘转角、电子换挡器以及各类阀控系统等关键部件提供实时、可靠的位置信息,助力整车操控系统实现更为精细的调校,提升驾驶的安全性与舒适性。

(来源:纳芯微)

精准多维检测,提升多场景检测效率

MT652x系列芯片突破传统2D位置传感器方案的局限,内置两对互成90°布局的水平霍尔阵列及聚磁片,可沿X、Y、Z三轴精准测量磁场分量。得益于灵活的型号配置,MT652x系列能够实现对XY、XZ以及YZ平面磁场变化的精准检测,从而精确测量线性位移和旋转位置。

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(来源:纳芯微)

相比传统上需要多颗器件协同工作的方案,MT652x系列将多维检测功能高度集成于单一芯片,在显著提升系统集成度的同时,优化多场景检测效率,为汽车电子系统提供更简洁、高效的解决方案。

高精度高可靠,满足严苛应用需求

MT652x系列芯片以卓越的性能和可靠性,能够从容应对各种严苛应用环境的考验。其精心设计的宽工作电压范围(4.5~5.5V)、高耐压能力(-14V~20V)以及宽工作温度范围(-40~150℃),确保在多种严苛应用环境中的稳定运行,为系统可靠性保驾护航。同时,MT652x系列凭借优异的系统匹配度和成本控制优势,为用户提供高性价比的解决方案,满足汽车电子系统对高性能、高可靠性的严苛需求。

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(来源:纳芯微)

MT652x系列芯片以卓越的测量精度,为系统提供可靠的位置信息保障。其出厂积分非线性误差严格控制在±1°以内,微分非线性误差更是低至±0.01°,角度噪声仅为0.03°rms。这些优异的性能指标确保MT652x系列在各种复杂工况下都能稳定、准确地输出位置信息,确保系统运行的可靠性和安全性,助力汽车电子系统实现更精准的控制和更安全的驾驶体验。

多重安全防护,构筑系统稳定运行坚实屏障

MT652x系列芯片具备±6KV HBM ESD防护能力,并集成过压(OVP)、防反、过流(OCP)以及断线检测等多重保护机制,可敏锐捕捉线路故障风险,显著提升系统失效诊断能力。

该系列芯片不仅满足AEC-Q100 Grade 0车规认证,更达到ISO 26262 ASIL B功能安全标准。凭借一系列自检、诊断等功能安全机制,MT652x系列芯片构建起多重安全防护体系,确保系统数据传输的持续稳定,确保汽车电子系统安全可靠的运行。

丰富接口,灵活适配多场景应用

MT652x系列芯片提供多种信号输出方式,包括12位模拟电压(DAC)、12位PWM、SENT、3线SPI及开关量输出,并支持8点或17点等分可编程线性化功能。丰富的接口与协议配置其能够灵活适配各种车载应用场景,满足不同客户的多样化需求。

在确保高精度、高可靠性的同时,MT652x系列有效降低了客户的设计复杂度和综合成本,为汽车电子系统提供更灵活、高效的解决方案,助力客户快速实现产品开发和应用部署。

审核编辑 黄宇

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