钙钛矿太阳能电池作为新一代光伏技术,其产业化进程面临大面积制备质量控制的关键挑战。本研究提出了一种创新的非破坏性表征技术——k参数成像法(k-imaging),通过美能钙钛矿在线PL测试机对光强依赖性光致发光(PL)的幂律关系分析,实现了对钙钛矿薄膜质量的快速、精准评估。
光强依赖性光致发光PL成像技术
Millennial Solar

(a) 实验装置示意图(b-c) PL强度图像与幂律拟合(d) k参数空间分布图
k参数的物理内涵研究发现,钙钛矿薄膜的PL强度随激发光强变化遵循幂律关系,其中指数k具有明确物理意义:
- k→1:辐射复合主导(高质量)
- k→2:缺陷辅助的非辐射复合显著通过速率方程推导,k值与非辐射复合效率ηnr存在定量关系:ηnr≈(k-1)
成像系统设计上图展示了自主搭建的光学系统:
- 激发源:双467nm LED阵列,实现<3%不均匀度(135×75mm?)
- 检测模块:715nm长通滤光片+sCMOS(70μm/pixel)
- 多光强激发:18级梯度(0.01-0.1suns),单次测量5分钟
系统通过像素级幂律拟合获取k分布图,标准样品测试显示k=1.53±0.01,对应非辐射损失~30%。
抗干扰验证实验
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抗干扰验证(a-b)非均匀激发对比(c-d)镜面反射干扰实验
为验证k成像技术对光学伪影的免疫力,研究者设计了两个对照实验。在非均匀激发实验中,人为制造边缘区域23%的光强增强,发现尽管PL强度出现显著梯度变化,但k参数空间分布仍保持均匀。此现象通过速率方程理论得以解释:k参数本质上反映复合机制的比例关系,与绝对光强无关。第二个实验将样品部分置于镜面上方。结果显示镜面反射区PL强度提升44%,而k值差异小于1%。这一结果具有重要意义:传统PL成像中,由于衬底反射率差异导致的信号波动常被误判为薄膜质量变化,而k参数有效规避了这一误诊风险。这对工业化应用中常见的多样化衬底场景尤为重要。
空穴传输层HTL界面诊断
Millennial Solar
界面工程评估(a-c) 三种空穴传输层k成像(d-e) 积分球验证
通过对比三种空穴传输结构对钙钛矿薄膜质量的影响。发现k 值与界面缺陷密度直接相关:引入 2PACz 界面层可降低 k 值(从 1.61 降至 1.54),表明非辐射复合减少;而旋涂 NiOx 层因表面缺陷导致 k 值回升(1.62),验证了界面工程对复合过程的调控作用。
钝化工艺优化
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钝化浓度优化(a-d) PEAI梯度实验(c)TRPL佐证
k成像在PEAI体钝化浓度优化中的应用。随着PEAI浓度从0增至10 mg/ml,k值呈单调递减趋势,但电池Voc在7.5 mg/ml达到峰值1.17 V后下降。TRPL测试显示7.5 mg/ml时载流子寿命达312 ns,较未钝化样品提升75%。进一步阻抗分析表明:过量PEAI虽然继续改善体相质量(k↓),但会引入绝缘层效应,导致串联电阻增加和FF降低。这体现了k成像的特色价值——可独立评估钝化效果,避免电池整体性能参数的互相耦合干扰。本研究开发的k参数成像技术,通过光强依赖性光致发光(PL)的幂律分析,实现了对钙钛矿薄膜质量的精确评估。实验证明该方法对光学伪影具有独特鲁棒性,能够有效诊断界面工程效果、优化钝化工艺窗口。特别地,k参数与Voc变化(灵敏度20mV)的关联性为生产线的实时质量决策提供了可靠依据。
美能钙钛矿在线PL测试机
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在线PL缺陷检测通过非接触、高精度、实时反馈等特性,系统性解决了太阳能电池生产中的速度、良率、成本、工艺优化与稳定性等核心痛点,并且结合AI深度学习,实现全自动缺陷识别与工艺反馈。
- PL高精度成像:采用线扫激光,成像精度<50um/pix,(成像精度可定制)
- 高速在线PL检测缺陷:检测速度≤ 2s,漏检率< 0.1%;误判率< 0.3%
- AI缺陷识别分类训练:实现全自动缺陷识别与工艺反馈
本研究开发的k参数成像技术已通过美能钙钛矿在线PL测试机实现产业化转化,结合工业级检测速度与大面积覆盖能力,成为钙钛矿太阳能电池量产中的关键质量控制工具。
原文参考:Intensity Dependent Photoluminescence Imaging for In-Line Quality Control of Perovskite Thin Film Processing
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