IGBT(?Insulated Gate Bipolar Transistor?,绝缘栅双极型晶体管)是一种复合型功率半导体器件,由?双极型三极管(BJT)?和?金属-氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)?结合而成。其核心价值在于兼具MOSFET的高输入阻抗(驱动功率小)与BJT的低导通压降特性,实现了电能高效转换与精准控制。
?核心特性?
?结构特性?
采用?PNPN垂直叠层结构?,包含发射区(P+)、集电区(N-)、漂移区(N+)和栅极区(P)。
电流流动方向垂直于晶片表面,有助于提升耐压能力和电流承载密度。
?工作原理?
?导通?:栅极施加正向电压时,形成导电沟道,为PNP晶体管提供基极电流,实现集电极-发射极导通。
?关断?:移除栅极电压后,沟道消失,阻断电流通路。
?性能优势?
?低损耗?:导通压降低(VCE(SAT)),开关速度快,显著降低能量损耗。
?高耐压?:可承受数千伏电压(如电动汽车电机控制器中应用的600V以上直流电压)。
IGBT的静态参数和动态参数分别表征器件在不同工作状态下的特性,二者在测试条件、物理意义和应用场景方面存在显著差异。具体区别如下:
?一、静态参数?
定义:反映稳态工作条件下(导通或阻断状态)的电气特性,通常在直流或准静态条件下测得
典型参数:
?VCE(SAT)?:导通状态下集电极-发射极间饱和压降,直接影响导通损耗
?VCES?:关断时可承受的最大集电极-发射极阻断电压,决定器件耐压能力
?VGE(TH)?:栅极开启阈值电压,控制器件导通的门槛值
?ICES/IGES?:阻断状态下的漏电流指标,影响关断功耗
?VF?:续流二极管正向压降,影响续流回路损耗
测试条件:
固定温度(通常25℃和高温)
稳定导通或完全关断状态
?二、动态参数?
定义:描述开关瞬态过程中(开通/关断切换)的特性,需在脉冲工作条件下测量
典型参数:
?开关时间?(Ton/Toff):器件状态切换速度,影响开关频率和损耗
?栅极电阻?:外部驱动电路参数,与内部栅极电阻共同影响开关速度及EMI特性
?寄生电容?(Cies/Coes/Cres):影响驱动功率需求和开关波形震荡
?充电电荷?(Qg/Qgd):栅极驱动所需电荷量,决定驱动电路设计
?开关损耗?(Eon/Eoff):每次开关过程的能量损耗,影响系统效率
测试条件:
特定负载电流和电压的脉冲测试
考虑温度对开关特性的影响
?三、核心差异对比?
维度 静态参数 动态参数
?测试状态? 稳态(导通/阻断) 瞬态(开关过程)
?影响指标? 导通损耗、耐压能力 开关损耗、系统效率、EMI
?设计关注? 选型匹配、热管理 驱动电路、缓冲电路设计
?相关性? 工艺参数离散导致并联不均 寄生参数差异引发动态电流失衡
?四、实际应用影响?
?静态参数不匹配?:导致并联器件间电流分配不均,引发局部过热
?动态参数差异?:造成开关时序不同步,加剧动态电流震荡和电压尖峰
?温度依赖性?:VCE(SAT)等静态参数随温度变化反向漂移,开关损耗随温度升高而增加
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来源:csdn
审核编辑 黄宇
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