0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

碳化硅(SiC)MOSFET替代硅基IGBT常见问题Q&A

杨茜 ? 来源:jf_33411244 ? 作者:jf_33411244 ? 2025-03-13 11:12 ? 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

碳化硅(SiC)MOSFET作为替代传统硅基IGBT的新一代功率器件,在电动汽车、可再生能源、高频电源等领域展现出显著优势,随着国产碳化硅MOSFET技术、成本及供应链都日趋完善,国产SiC碳化硅在电力电子应用中全面取代进口IGBT,助力中国电力电子行业自主可控和产业升级!以下是针对碳化硅MOSFET替代IGBT的常见问题及解答,结合行业现状与技术发展进行综合分析:

问题1:国产碳化硅MOSFET成本低于或者持平进口IGBT

wKgZPGfSTSqADeroAA7OzCOT0EE291.pngwKgZO2fSTSuAXk3-AAHlbKSsOeY479.png

解答
国产碳化硅MOSFET的初始成本已经低于或者持平于进口IGBT,并且其国产碳化硅MOSFET系统级成本优势显著。例如:

效率提升:国产SiC MOSFET的开关损耗降低70%,导通损耗更低,可减少散热系统体积及能耗。在电动汽车中,使用SiC逆变器可提升续航5%-8%,降低电池容量需求,节省整车成本。

长期收益:高频电源应用中(如电镀、焊接),国产SiC模块通过节能和减少维护成本,回本周期可缩短至1-2年。

规模化降本:8英寸衬底量产、良率提升、工艺优化等措施推动成本快速下降,预计2027年国产SiC成大幅度低于IGBT,预计仅为IGBT的一半价格。

wKgZPGfSTSyASGU8AA_JAksvI_I601.pngwKgZO2fSTSyAFVY9AB0CDjkeLcU623.png

问题2:碳化硅驱动设计复杂,如何解决?

解答
SiC MOSFET的驱动需更高电压(+18V)和负压关断(-3~-5V),并需应对米勒效应带来的误开通风险。解决方案包括:

专用驱动芯片:如基本半导体的BTD25350驱动芯片集成米勒钳位功能,可抑制寄生导通,降低关断损耗35%-40%。

系统优化:采用Kelvin源极连接封装(如TO-247-4)减少寄生电感,并通过低环路PCB布局降低电压尖峰。

配套方案:厂商提供驱动IC、隔离电源及参考设计(如BASiC基本股份的BTP1521P电源IC),简化适配难度。

问题3:碳化硅的可靠性与寿命是否足够?

解答
部分国产SiC MOSFET因工艺缺陷(如栅氧层过薄)或者底层工艺及DOE设计能力不足导致可靠性问题,但头部企业已突破关键技术:

工艺改进:优化器件结构和工艺、缺陷控制及封装技术(如铜烧结工艺),使HTGB测试达到+22V/3000小时标准,接近国际水平。

认证与验证:通过AEC-Q101车规认证,并在工业场景积累数万小时运行数据,逐步建立市场信任。

热管理:SiC导热系数为硅的4倍,结合低热阻封装(如0.29K/W),支持175°C高温工作,延长系统寿命。

问题4:国际供应链依赖如何破局?

解答
国产SiC产业链已实现关键突破:

材料与制造:天岳先进等企业量产导电型衬底,8英寸良率提升至60%;IDM模式(如基本半导体)覆盖设计-制造-封测全链条,降低代工依赖。

政策支持:专项基金扶持衬底、外延等核心技术研发,推动国产替代率从2022年的35%提升至2024年的80%。

国际合作:车企与半导体厂商比如BASiC基本股份(BASiC Semiconductor)合作开发定制化模块,加速技术吸收。

问题5:高频应用中的寄生参数如何应对?

解答
高频场景(如100kHz以上)需优化布局与驱动:

低电感设计:模块寄生电感控制在20nH以内,减少开关振荡和EMI干扰。

快速体二极管:SiC MOSFET体二极管恢复时间仅28ns(硅基为184ns),无需外接快恢复二极管,简化电路。

驱动芯片选型:支持高拉/灌电流(如±15A)的驱动芯片满足快速开关需求,适配高频电源设计。

BASiC基本股份针对SiC碳化硅MOSFET多种应用场景研发推出门极驱动芯片,可适应不同的功率器件和终端应用。BASiC基本股份的门极驱动芯片包括隔离驱动芯片和低边驱动芯片,绝缘最大浪涌耐压可达8000V,驱动峰值电流高达正负15A,可支持耐压1700V以内功率器件的门极驱动需求。

BASiC基本股份低边驱动芯片可以广泛应用于PFCDCDC、同步整流,反激等领域的低边功率器件的驱动或在变压器隔离驱动中用于驱动变压器,适配系统功率从百瓦级到几十千瓦不等。

BASiC基本股份推出正激 DCDC 开关电源芯片BTP1521P,BTP1521F,该芯片集成上电软启动功能、过温保护功能,输出功率可达6W。芯片工作频率通过OSC 脚设定,最高工作频率可达1.5MHz,非常适合给隔离驱动芯片副边电源供电。

对SiC碳化硅MOSFET单管及模块+18V/-4V驱动电压的需求,BASiC基本股份提供自研电源IC BTP1521P系列和配套的变压器以及驱动IC BTL27524或者隔离驱动BTD5350MCWR(支持米勒钳位)。

wKgZPGfSTS2AfqgBAA799mqhDdE132.pngwKgZO2fSTS6AWdxmAAjSOgMc5h0440.pngwKgZPGfSTS6Ac_obAAV8tbb_2qw563.pngwKgZO2fSTS-AVX5TAAagIXdo_Cg834.pngwKgZPGfSTS-Ae4GYAAei5tULMcs850.pngwKgZO2fSTS-APg1hAAeCwWiSQRs525.png

结论

碳化硅MOSFET替代IGBT的进程随着国产碳化硅MOSFET技术突破、成本优化及市场需求的共同驱动。随着国产碳化硅MOSFET解决了初期成本压力及供应链风险,其在高压平台、高频应用中的方案优势和不可替代性更加显现。未来,随着国产技术成熟度提升、标准化建设完善及资本理性投入,国产碳化硅功率半导体从“替代者”迈向“主导者”,重塑功率半导体产业格局。

审核编辑 黄宇

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • MOSFET
    +关注

    关注

    150

    文章

    8686

    浏览量

    221119
  • IGBT
    +关注

    关注

    1280

    文章

    4083

    浏览量

    255147
  • 碳化硅
    +关注

    关注

    25

    文章

    3079

    浏览量

    50617
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    时代的黄昏:为何SiC MOSFET全面淘汰IGBT

    ,助力电力电子行业自主可控和产业升级! 倾佳电子杨茜咬住SiC碳化硅MOSFET功率器件三个必然,勇立功率半导体器件变革潮头: 倾佳电子杨茜咬住SiC
    的头像 发表于 05-30 16:24 ?368次阅读
    <b class='flag-5'>硅</b><b class='flag-5'>基</b>时代的黄昏:为何<b class='flag-5'>SiC</b> <b class='flag-5'>MOSFET</b>全面淘汰<b class='flag-5'>IGBT</b>?

    国产SiC碳化硅功率模块全面取代进口IGBT模块的必然性

    国产SiC模块全面取代进口IGBT模块的必然性 ——倾佳电子杨茜 BASiC基本半导体一级代理倾佳电子(Changer Tech)-专业汽车连接器及功率半导体(SiC碳化硅
    的头像 发表于 05-18 14:52 ?383次阅读
    国产<b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>碳化硅</b>功率模块全面取代进口<b class='flag-5'>IGBT</b>模块的必然性

    麦科信光隔离探头在碳化硅SiCMOSFET动态测试中的应用

    碳化硅SiCMOSFET 是基于宽禁带半导体材料碳化硅SiC)制造的金属氧化物半导体场效应晶体管,相较于传统
    发表于 04-08 16:00

    碳化硅VSIGBT:谁才是功率半导体之王?

    在半导体技术的不断演进中,功率半导体器件作为电力电子系统的核心组件,其性能与成本直接影响着整个系统的效率与可靠性。碳化硅SiC)功率模块与绝缘栅双极型晶体管(
    的头像 发表于 04-02 10:59 ?2867次阅读
    <b class='flag-5'>碳化硅</b>VS<b class='flag-5'>硅</b><b class='flag-5'>基</b><b class='flag-5'>IGBT</b>:谁才是功率半导体之王?

    全球功率半导体变革:SiC碳化硅功率器件中国龙崛起

    功率器件变革中SiC碳化硅中国龙的崛起:从技术受制到全球引领的历程与未来趋势 当前功率器件正在经历从传统的功率器件持续跃升到SiC
    的头像 发表于 03-13 00:27 ?316次阅读

    BTP1521P/F是碳化硅MOSFET驱动隔离供电的性价比最优解

    碳化硅(SiC)功率器件快速替代器件的趋势中,驱动隔离供电方案的性能与成本成为关键制约因素。基本半导体的 BTP1521P 和 BTP
    的头像 发表于 03-01 10:16 ?880次阅读
    BTP1521P/F是<b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>驱动隔离供电的性价比最优解

    BASiC基本股份国产SiC碳化硅MOSFET产品线概述

    倾佳电子杨茜致力于推动国产SiC碳化硅模块在电力电子应用中全面取代进口IGBT模块,助力电力电子行业自主可控和产业升级! 倾佳电子杨茜咬住SiC碳化
    的头像 发表于 02-12 06:41 ?453次阅读
    BASiC基本股份国产<b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>产品线概述

    高频感应电源国产SiC碳化硅模块替代英飞凌IGBT模块损耗计算对比

    倾佳电子杨茜以50KW高频感应电源应用为例,分析BASiC基本股份国产SiC模块替代英飞凌IGBT模块损耗计算对比: 倾佳电子杨茜致力于推动国产SiC
    的头像 发表于 02-10 09:41 ?450次阅读
    高频感应电源国产<b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>碳化硅</b>模块<b class='flag-5'>替代</b>英飞凌<b class='flag-5'>IGBT</b>模块损耗计算对比

    5G电源应用碳化硅B3M040065Z替代超结MOSFET

    倾佳电子杨茜以48V 3000W 5G电源应用为例分析BASiC基本股份国产碳化硅MOSFET B3M040065Z替代超结MOSFET的优势,并做损耗仿真计算: 倾佳电子杨茜致力于推
    的头像 发表于 02-10 09:37 ?434次阅读
    5G电源应用<b class='flag-5'>碳化硅</b>B3M040065Z<b class='flag-5'>替代</b>超结<b class='flag-5'>MOSFET</b>

    高频电镀电源国产SiC碳化硅模块替代富士IGBT模块损耗对比

    倾佳电子杨茜以50KW高频电镀电源应用为例,分析BASiC基本股份国产SiC碳化硅模块替代富士IGBT模块损耗对比: 倾佳电子杨茜致力于推动国产Si
    的头像 发表于 02-09 20:17 ?588次阅读
    高频电镀电源国产<b class='flag-5'>SiC</b><b class='flag-5'>碳化硅</b>模块<b class='flag-5'>替代</b>富士<b class='flag-5'>IGBT</b>模块损耗对比

    40mR/650V SiC 碳化硅MOSFET替代30mR 超结MOSFET或者20-30mR的GaN!

    BASiC基本半导体40mR/650V SiC 碳化硅MOSFET替代30mR 超结MOSFET或者20-30mR的GaN! BASiC基
    发表于 01-22 10:43

    SiC碳化硅MOSFET功率模块在工商业储能变流器PCS中的应用

    *附件:国产SiC碳化硅MOSFET功率模块在工商业储能变流器PCS中的应用.pdf
    发表于 01-20 14:19

    什么是MOSFET栅极氧化层?如何测试SiC碳化硅MOSFET的栅氧可靠性?

    具有决定性的影响。因此,深入理解栅极氧化层的特性,并掌握其可靠性测试方法,对于推动碳化硅 MOSFET的应用和发展具有重要意义。今天的“SiC科普小课堂”将聚焦于“栅极氧化层”这一新话题:“什么是栅极
    发表于 01-04 12:37

    什么是米勒钳位?为什么碳化硅MOSFET特别需要米勒钳位?

    功率器件的开通速度。- 使用米勒钳位功能。03 IGBTSiC MOSFET对于米勒钳位的需求以下表格为IGBT/
    发表于 01-04 12:30

    碳化硅MOSFET栅极氧化层缺陷的检测技术

    碳化硅材料在功率器件中的优势碳化硅SiC)作为第三代化合物半导体材料,相较于传统器件,展现出了卓越的性能。
    的头像 发表于 12-06 17:25 ?1500次阅读
    <b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>栅极氧化层缺陷的检测技术