0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

边缘芯片详解

中科院半导体所 ? 来源:老虎说芯 ? 2024-12-24 11:38 ? 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

本文介绍了什么是边缘芯片(edge die)。

边缘芯片(edge die)是指位于晶圆边缘区域的芯片,由于晶圆制造过程中的掩模对准误差或晶圆切割等原因,这些芯片可能在设计上存在缺陷或尺寸不完整。以下是对边缘芯片的详细解释:

1. 边缘芯片的形成原因

晶圆制造过程中,光刻、沉积、刻蚀等工艺的作用通常会集中在晶圆的中心区域,因为这些区域的对准精度更高、工艺条件更稳定。晶圆的边缘区域由于距离工艺设备的对准基准较远,受光学衍射效应、机械应力、温度等因素的影响较大,导致边缘部分的芯片质量往往较差。特别是在晶圆切割时,由于晶圆机械力不均匀,边缘部分容易形成缺陷或未完全切割的芯片。

2. 边缘芯片的特点

尺寸不完整:由于在切割过程中,边缘芯片可能不完全符合设计要求,尺寸上较为不规则,甚至会出现未完整切割的情况。这意味着边缘区域的芯片在生产过程中的良率较低。

缺陷增加:边缘芯片由于光刻和刻蚀的对准精度较低,容易产生一些微小的缺陷或失效,影响芯片的功能。

废弃和损失:边缘芯片通常被视为废弃区域,因为它们的质量和性能较差,无法达到标准要求。这些芯片的存在意味着晶圆在加工过程中存在一定的浪费。

3. 边缘芯片对晶圆利用率的影响

晶圆的边缘芯片主要是由于制造和切割中的物理限制所导致的面积浪费。为了提高晶圆的使用效率,半导体行业在发展过程中不断推动使用更大直径的晶圆(如300mm晶圆),以减少边缘芯片占用的面积。这是因为大直径晶圆能够提供更多的有效区域,减少边缘部分无法使用的浪费。

4. 如何缓解边缘芯片的影响

提高工艺精度:通过提升光刻、刻蚀和其他工艺的精度,减少边缘区域的芯片缺陷。这是提升良率和减少边缘芯片数量的根本途径。

优化切割方法:采用更加精细的晶圆切割技术,使得切割过程中边缘部分的损失最小化。

晶圆尺寸的提升:增加晶圆的尺寸(如使用更大的300mm或450mm晶圆)可以降低边缘芯片所占的面积比,进而提升单位面积的芯片数量。

5. 类比与比喻

可以将晶圆比作一块大蛋糕,芯片是切好的小块。而边缘芯片就像蛋糕边缘的一些碎屑,虽然它们原本是蛋糕的一部分,但由于边缘切割不完美,这些碎屑通常不可食用。为了减少这些碎屑,制造者会尽量改进切割工具或选择更大的蛋糕,这样即使有些边角部分被浪费掉,也能确保中心区域的蛋糕质量更高。

6. 总结

边缘芯片是晶圆生产中不可避免的产物,主要由光刻、切割等工艺造成。虽然边缘芯片不符合标准,无法作为合格产品使用,但通过提高工艺精度、优化切割技术和使用更大直径的晶圆,能够有效减少边缘芯片的面积浪费,提升晶圆的整体利用率和良率。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 芯片
    +关注

    关注

    460

    文章

    52616

    浏览量

    442690
  • 晶圆
    +关注

    关注

    53

    文章

    5181

    浏览量

    130122

原文标题:什么是边缘芯片(edge die)

文章出处:【微信号:bdtdsj,微信公众号:中科院半导体所】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    Canny双阈值边缘检测和弱边缘连接详解

    在上一篇FPGA图像处理--Canny边缘检测(一)里介绍了Canny边缘检测的NMS计算,这里就介绍一下双阈值边缘检测和弱边缘连接。
    的头像 发表于 11-18 17:07 ?3752次阅读

    芯片封装测试流程详解ppt

    芯片封装测试流程详解ppt?按封装外型可分为:SOT 、QFN 、SOIC、TSSOP、QFP、BGA、CSP等;? 决定封装形式的两个关键因素:?封装效率。芯片面积/封装面积,尽量接近1:1
    发表于 01-13 11:46

    LM324芯片详解

    新手学着学长们发个帖子,希望大家支持!LM324芯片详解
    发表于 03-23 15:49

    Xilinx系列FPGA芯片IP核详解

    `Xilinx系列FPGA芯片IP核详解(完整高清书签版)`
    发表于 06-06 13:15

    基于Qualcomm FastCv的边缘检测算法详解

    作为图像处理和计算机视觉中的基本问题,边缘检测的目的是标识数字图像中亮度变化明显的点:图像属性中包含的重要事件和变化我们是能通过图像属性中的显著变化检测出来! 这些包括深度上的不连续、表面方向不连续
    发表于 09-21 11:45

    边缘节点通信详解

    边缘节点通信介绍
    发表于 12-22 07:21

    DC/DC工作原理及芯片详解

    硬件设计:电源设计--DC/DC工作原理及芯片详解参考资料:DC/DC降压电源芯片内部设计原理和结构MP2315(DC/DC电源芯片)解读DC/DC电源
    发表于 11-11 08:49

    北桥芯片详解

    北桥芯片详解       北桥芯片(North Bridge)是主板芯片组中起主导作用的最重要的组成部分,也称
    发表于 04-26 17:41 ?3937次阅读

    南桥芯片详解

    南桥芯片详解         南桥芯片(South Bridge)是主板芯片组的重要组成部分,一般位于主板上离CPU插槽较远
    发表于 04-26 17:42 ?4963次阅读

    555芯片应用详解

    555芯片应用详解,感兴趣的小伙伴们可以看看。
    发表于 08-22 15:16 ?52次下载

    什么是边缘计算?边缘计算中的芯片机遇

    要具体理解边缘计算对于芯片产业的机遇,我们选取目前最成熟的边缘计算方案之一、也是未来有望看到的最大应用领域——智能驾驶为例,即通过特斯拉autopilot 辅助驾驶系统的拆解来分析。
    的头像 发表于 03-13 15:52 ?1.7w次阅读
    什么是<b class='flag-5'>边缘</b>计算?<b class='flag-5'>边缘</b>计算中的<b class='flag-5'>芯片</b>机遇

    边缘人工智能芯片是如何发光的

    边缘人工智能芯片的普及很可能将推动消费者和企业发生显著改变。
    发表于 03-26 10:22 ?1628次阅读

    集成芯片原理图详解

    集成芯片的原理图详解涉及多个方面,包括芯片的结构、功能模块、信号传输以及内部电路连接等。
    的头像 发表于 03-19 16:36 ?3129次阅读

    Orin芯片边缘计算结合

    Orin芯片,作为英伟达推出的一款高性能AI处理器,与边缘计算的结合,无疑将为智能计算领域带来革命性的变化。 一、Orin芯片的创新特点 Orin芯片是英伟达推出的一款专为自动驾驶和
    的头像 发表于 10-27 16:51 ?1366次阅读

    芯片新关税涉及的品牌/标签/产地—详解

    芯片新关税涉及的品牌/标签/产地—详解
    的头像 发表于 04-16 17:44 ?592次阅读
    <b class='flag-5'>芯片</b>新关税涉及的品牌/标签/产地—<b class='flag-5'>详解</b>