为什么要实现芯片射频自动化测试？ATECLOUD如何解决痛点？

射频芯片主要应用于无线通信和雷达系统等领域，其性能直接影响到通信系统的质量。而ATECLOUD-IC会针对芯片射频自动化测试提供一站式软硬件解决方案，实现高效快速的自动化测试，并且给予结果反馈。

芯片射频自动化测试的重要性

射频芯片能实现无线信号的发送、接收、放大、滤波、解调等功能，被广泛应用在雷达、无线通信、卫星通讯等领域。这种对于通信质量要求很高，因此射频芯片测试是非常重要的。而且射频系统中信号的频率、相位等参数对通信质量影响很大，精度要求高，因此实现芯片射频自动化测试可以极大提高测试效率和可靠性。

ATECLOUD芯片射频自动化测试优势

ns级高精度同步测试

灵活多工位扩展，高速并行测试，提高测试效率

支持批量测试

0代码开发，拖拽封装指令搭建测试方案和项目，一键运行，快速实现自动化测试

支持表征、功能评估和批量生产评估

数据分析功能，会以图表形式展现汇总的数据，数据变化、波动等清晰可见

根据所需的数据可以自定义数据报告并导出

芯片自动化测试系统

ATECLOUD-IC解决测试痛点

人工手动测试，效率低，需要提高测试效率和准确性;

测试产品种类繁多，测试方法多样，客户需要灵活的解决方案，以适应未来的变化和需求;

记录测试数据量大，容易出错，需要提高测试效率和准确性;

长时间测试，工作量大，需要降低测试成本;

现有软件系统迭代繁琐且耗时，不能持续兼容新产品;

需要满足特定的测试需求，如外购配件等;

需要符合自身芯片测试方法;

需要寻找国产化替代方案。

天宇微纳研发的ATECLOUD智能云平台专注于各类仪器自动化测试，该平台简单、易上手操作，为用户提供整体解决方案，并分析测试结果，给予反馈。

审核编辑 黄宇