半导体封装推拉力测试机是一种高精度、高效率的测试设备,适用于对半导体封装产品进行推力和拉力测试,以验证其物理性能指标。该设备具有多功能自动切换的特点,包括自动识别推力和拉力,自动选择测试模式和速度,以及高速力值采集系统。
该设备配置旋转模组,可以更加准确地测量产品的变形和位移情况。软件控制自动选择对应推力和拉力,可以实现测试数据的自动处理和存储,提高测试效率和精度。此外,该设备采用高精度的传感器和测量仪器,可以更稳定地采集力量数据,确保测试结果的准确性和可靠性。
特斯精密推拉力测试机TEST4500
半导体封装推拉力测试机具有高精度、高效率、高稳定性和高可靠性的特点,可以广泛应用于半导体封装产品的生产和检测领域,为产品的质量和安全提供有力的保障。
多模组自动推拉力测试机TEST4000
审核编辑 黄宇
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从理论到实践:推拉力测试机在微电子封装失效分析中的关键作用


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