光研科技自主研发的光斑分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案,并支持多应用开发。通过光束分析装置一体化设计,配套衰减方案设计,支持实时曝光及增益调节。适用在半导体激光器,固体激光器,光纤激光器,超快激光器,激光测距等领域。
目前已作为成熟产品在市场推广,性价比很高,得到大量客户认同。现公司研发部可根据客户不同需求进行模块化定制。
产品特点:
1. 可选超宽光谱多波长系列产品,覆盖紫外到长波红外波长范围。
2. 较宽的光斑直径测量范围:光斑直径范围可满足目前市场大部分的光斑产品范围,部分产品支持更小光斑拓展。
3. 光斑分析仪一体化设计,配套衰减方案设计:设备自带吸收衰减装置,测低功率的毫瓦级激光,也可根据不同功率激光测试的需求,提供可选的衰减方案,无需准备其他配件即可快速测量。
4. 软件全自主开发,可提供底层通讯协议。
5. 高性价比,可代替进口激光光束质量分析仪,实现激光光斑检测及测试应用。
产品型号:
需求定制
可为客户定制不同需求的光斑分析仪,不同的激光束直径,激光功率等。
审核编辑 :李倩
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原文标题:重磅研发 | 五大特点助力实现激光光斑检测及测试应用
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一种简易测试半导体激光器远场光斑的方法?

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