0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

CM300xi-ULN探针台在在片噪声测试领域中的应用

tjxinrui ? 来源:tjxinrui ? 作者:tjxinrui ? 2022-06-18 15:14 ? 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

采用PureLine 3技术的新型CM300xi-ULN可消除97%以前探针台中的环境噪声,并从根本上改变7纳米以下前沿技术节点的实验室闪烁噪声测量

今天,我们正式推出一种300mm晶圆探针台CM300xi-ULN,该系统设计用于闪烁噪声(1/f)、随机电报噪声(RTN)和相位噪声的高精度测试。

此类噪声问题对先进模拟和数字IC技术造成的困扰日益增加,而该技术功率和性能的提高需要以降低噪声容许量为代价。因此,目前的器件设计和验证需使用高灵敏度设备仔细表征此类内部噪声源。上述探针台CM300xi-ULN通过消除97%以上的环境噪声为超低噪声测量建立了新的行业金标准。

使用新获得专利的PureLine? 3技术,ULN探针台可降低32倍(1 kHz)的噪声,以改进5G及以上应用7/5/2nm技术节点的器件表征和建模。

当与噪声测试设备(闪烁噪声、RTN、相位噪声)集成时,CM300xi-ULN使用带有Contact Intelligence?的电动探针座可提供行业最高测试吞吐量,实现全自动DC和低频噪声测量,并采用多DUT布局完全实现全天候自动运行。

最后,CM300xi-ULN降低了低噪声测试单元优化的复杂性。只需通电即可开始测试。测试单元电源管理可消除测试单元所有接地回路感应噪声,并为整个系统、探针台和仪器提供全面管理和过滤的交流电源

CM300xi-ULN探针台在在片噪声测试领域实现了四项重要的行业“第一”,包括:

  • 第一款实现-190dB频谱噪声*的自动化探针台,可对新的高性能器件进行高精度噪声测量(*典型值,dBVrms/√Hz,1kHz至1MHz,含探针台和温控系统)
  • 集成测试单元电源管理,可消除接地回路感应噪声,并为探针台和仪器提供全面管理和过滤的交流电源
  • 在30um焊盘上完全自主进行闪烁噪声热测试,测试速度比上一代系统快4倍
  • 客户现场调查和“低噪声”安装验证,可显著降低安装成本和工具部署时间

审核编辑:符乾江

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 模拟IC
    +关注

    关注

    8

    文章

    175

    浏览量

    30212
  • 数字IC
    +关注

    关注

    2

    文章

    38

    浏览量

    13045
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    探针的应用领域#探针 #探针 #半导体领域 #集成系统 #科普

    探针
    jf_90915507
    发布于 :2025年08月08日 09:46:33

    HTP小型探针#探针 #小型探针 #科研设备 #实验室器材

    探针
    jf_90915507
    发布于 :2025年08月07日 09:50:59

    助力牛津大学搭建双面测试探针#

    探针
    jf_90915507
    发布于 :2025年08月06日 10:24:33

    x射线探针调试

    探针
    jf_90915507
    发布于 :2025年08月04日 17:12:45

    射频芯片该如何测试?矢网+探针实现自动化测试

    要求也逐渐提升,如何准确快速的完成射频芯片的批量测试则成了众多射频芯片企业面临的难题。 ? 射频晶圆芯片测试 为了满足射频芯片的大批量快速测试,采用自动化平台配合矢量网络分析和探针
    的头像 发表于 07-24 11:24 ?185次阅读
    射频芯片该如何<b class='flag-5'>测试</b>?矢网+<b class='flag-5'>探针</b><b class='flag-5'>台</b>实现自动化<b class='flag-5'>测试</b>

    压电纳米定位技术在探针应用中有多关键?

    操作的背后,都离不开一个核心设备——探针。 一、探针:微观世界的测试探针
    的头像 发表于 07-10 08:49 ?164次阅读
    压电纳米定位技术在<b class='flag-5'>探针</b><b class='flag-5'>台</b>应用中有多关键?

    季丰电子推出低高温手动探针设备

    为满足客户对低温测试的要求,季丰电子成功自研了低高温手动探针,目前已在季丰张江FA投入使用,该机台填补了传统常规型手动探针无法实现低温
    的头像 发表于 06-05 13:38 ?459次阅读

    是德示波器相位噪声测试

    在现代电子技术不断进步的背景下,信号测试和分析在各个领域中变得至关重要。无论是通信、雷达、导航系统,还是高精度测量仪器,它们对信号质量的要求越来越高。相位噪声作为信号品质的重要指标之一,直接影响
    的头像 发表于 02-20 16:55 ?441次阅读
    是德示波器相位<b class='flag-5'>噪声</b><b class='flag-5'>测试</b>

    高温电阻测试仪的四探针法中,探针的间距对测量结果是否有影响

    在高温电阻测试仪的四探针法中,探针的间距对测量结果确实存在影响,但这一影响可以通过特定的测试方法和仪器设计来最小化或消除。 探针间距对测量结
    的头像 发表于 01-21 09:16 ?769次阅读
    高温电阻<b class='flag-5'>测试</b>仪的四<b class='flag-5'>探针</b>法中,<b class='flag-5'>探针</b>的间距对测量结果是否有影响

    用于测量和分离总传导辐射中的CM噪声和DM噪声的方法

    开关稳压器的EMI分为电磁辐射和传导辐射(CE)。 本文重点讨论传导辐射,其可进一步分为两类:共模(CM)噪声和差模(DM)噪声。 为什么要区分CM-DM?对
    的头像 发表于 01-09 16:15 ?624次阅读

    微波测量探针

    类型、触点尺寸可选,可通用适配多种探针探针臂,适用于微波集成电路在测试、管结参数提取、MEMS产品
    的头像 发表于 11-27 17:28 ?610次阅读
    微波测量<b class='flag-5'>探针</b>

    SMU数字源表连接探针示意图及注意事项

    数字源表SMU与探针组合用于半导体测试,连接需考虑线缆类型和探针选择。测试时需注意探针
    的头像 发表于 10-30 14:42 ?717次阅读
    SMU数字源表连接<b class='flag-5'>探针</b><b class='flag-5'>台</b>示意图及注意事项

    探针圆头和尖头的作用区别

    探针是电子测试和测量领域中非常重要的工具,它们用于接触电路板上的焊盘或测试点,以便进行电气测试或测量。
    的头像 发表于 09-07 10:50 ?2097次阅读

    开尔文探针测试原理是什么

    开尔文探针测试(Kelvin Probe Force Microscopy,KPFM)是一种非接触式表面电势测量技术,广泛应用于材料科学、表面科学、纳米技术和生物医学等领域。KPFM技术通过测量
    的头像 发表于 08-27 15:29 ?6131次阅读